장비별 제진대 설치 사례
대일시스템이 수행한 설치 보고서를 장비군별로 정리한 색인입니다. 전체 1,250건 가운데 장비 정보가 태그로 확인되는 934건을 분류했고, 각 군에서 최신 순으로 210건을 아래에 표시합니다. 각 항목은 설치 보고서 원문으로 연결되며, 보고서에는 설치 전후 진동 측정 결과가 함께 실려 있습니다.
1.FIB-SEM (집속이온빔)
FIB-SEM은 이미징과 밀링을 함께 수행하므로 스테이지 드리프트가 가공 결과에 그대로 남습니다. 내장형·저상형 액티브 플랫폼 설치가 주를 이룹니다.
이 장비군 설치 사례 170건 중 최신 30건
- YIMOTECH Thermo Fisher Helios 5CX FIB-SEM DVIA-ULF1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF10002026-07-13
- YDRICQS Thermo Fisher Scientific Helios 5CX FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-06
- BIEL Crystal Thermo Fisher Scientific Helios 5 FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-04
- BIEL Crystal Thermo Fisher Scientific Helios 5 FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-04
- YIMOTECH Thermo Fisher Scientific Helios 5CX FIB-SEM DVIA-M1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-07-02
- TF AMD Microelectronics 페낭 TESCAN AMBER X GMH FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-06-26
- SNU Precision DUAL BEAM DVIA-MB1000(220216R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-16
- ZEISS Crossbeam 550 DVIA-MB1000(221012R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-16
- 테스칸 코리아 LB세미콘 Amber X GMH DVIA-MB1000(221202R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-16
- PXW ZEISS FIB-SEM Crossbeam550 DVIA-M1000(230222R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-15
- TESCAN SOLARIS GMH DVIA-M1000(230501R3-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-15
- YIMO Thermo Fisher Scientific Helios SEM DVIA-ULF1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF10002026-05-13
- YIMO Hainan Univeristy Thermo Fisher Helios PFIB DVIA-MB1000(240201R3-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-11
- YIMO BYD Semiconductor ZEISS Crossbeam 550 FIB-SEM DVIA-M1000(240314R6) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-11
- Shenghe Jingwei ZEISS FIB-SEM Crossbeam 350 DVIA-M1000(240409R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-11
- YIMO ZEISS FIB-SEM Crossbeam 550 DVIA-M1000(240417R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-11
- NM-TECH 모스크바 Thermo Fisher Helios Nanolab 450 DVIA-ML1000(240719R3-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-05-11
- YIMO ZEISS Crossbeam 550L FIB-SEM DVIA-ML1000(250806R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-04-28
- YIMO TECH Qingdao Aviation Innovation Base QIYUE TECHNOLOGY SEM660F FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-04-23
- 절강 이글 반도체 ZEISS Crossbeam 550 DVIA-ML1000(260110R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-04-23
- Jiasheng Advanced Technology TESCAN Amber FIB-SEM DVIA-ML1000(251117R7) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-04-16
- 르웨스트시티 테스칸 코리아 TESCAN Amber FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-03-12
- Thermo Fisher Scientific Helios 5 FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-03-04
- YIMO ZEISS FIB-SEM Crossbeam 550 DVIA-ML1000(240603R6) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-01-08
- ZEIS FIB-SEM Crossbeam 550 DVIA-ML1000 (241104R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-01-07
- YIMO ZEISS Crossbeam 350 FIB-SEM DVIA-ML1000(250806R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-01-07
- YIMO TESCAN AMBER X FIB-SEM DVIA-MB1000(250718R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002025-11-18
- Peking University Shenzhen Graduate School Thermo Fisher Helios 5 CX FIB-SEM DVIA-M1000(250613R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-11-11
- YIMO 창핑 P3 연구실 Thermo Fisher Arctis Cryo-Plasma FIB-SEM DVIA-ML1000(250715R9) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-11-05
- DVIA-ML1000 (241016R7) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-11-03
2.FE-SEM (전계방출형)
전계방출형 칼럼은 나노미터 단위를 분해하므로, 상용 SEM 중 진동에 가장 민감한 부류입니다.
이 장비군 설치 사례 384건 중 최신 30건
- YIMOTECH 레조낙 일렉트로닉 머티리얼즈 ZEISS Sigma 360 FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-09-05
- YIMO TECH 푸젠이공대학 Hitachi SU7000 SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-08-22
- YIMOTECH ZEISS Sigma 360 FE-SEM DVIA-ULF700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF7002026-08-20
- YIMOTECH Thermo Fisher Quattro ESEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-08-19
- YIMOTECH ZEISS Sigma 360 FE-SEM DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-08-05
- YIMOTECH Hitachi SU8600 FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-31
- YIMOTECH Yidon Technologies YF-1801 FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-24
- YOUSHIZE TECH ZEISS GeminiSEM 360 FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-22
- YIMO TECH Thermo Fisher Scientific Apreo 2S SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-15
- 한국과학기술연구원 TESCAN Clara FE-SEM DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-07-06
- 코셈 Schottky Field Emission SEM DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-07-06
- China XD Electric Co., Ltd. ZEISS Sigma 360 FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-03
- Zhongju Core Quzhou Technology Hitachi High-Tech SU-8600 SEM DVIA-M1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-07-01
- YIMO TECH Fuyang University of Technology Thermo Fisher Apreo 2C SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-06-22
- 코셈 Schottky Field Emission SEM DVIA-ULFB700 (260423R1-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-06-22
- Kunshan DeKaiYiTe ZEISS Sigma 360 SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-06-17
- 厦门理工学院 Zeiss Sigma 500 UB700 설치 보고서 (181019R7) — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-26
- 한양대학교 ZEISS Sigma 300 DVIA-UB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-UB7002026-05-26
- 표준과학연구원 FE SEM UB700 진동 측정 보고서 (2016-06-21) — 적용 제품 DVIA-U Series2026-05-26
- 표준과학연구원 FE SEM UB700 P1 셋업 결과 보고서 (2016-06-20) — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-26
- Kunming Metallurgical Research Institute ZEISS Sigma 360 DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-05-21
- Greater Bay Area Quantum Center ZEISS Sigma 360 DVIA-ULF700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF7002026-05-21
- Greater Bay Area Quantum Center ZEISS Sigma 360 DVIA-ULF700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF7002026-05-21
- COXEM FX-2000 Schottky FE-SEM DVIA-ULFB700 (260423R1-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-05-21
- Shenzhen BYD Lithium Battery ZEISS Sigma 360 DVIA-U1000(250107R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-U10002026-05-18
- ZEISS Sigma 300 VP DVIA-MB1000(220121R3) 상하이 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-16
- RIGOL TECHNOLOGIES Sigma300 DVIA-M1000(220907R4-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-16
- Tier-1 Semiconductor 화성 ZEISS GeminiSEM 460 DVIA-MB1000(230110R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-15
- 중국과학원 금속연구소(Institute of Metal Research, CAS) ZEISS GeminiSEM360 DVIA-M1000(230328R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-15
- Guangzhou Kingmed Sigma300 DVIA-M1000(230401R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-15
3.SEM (주사전자현미경)
설치 기록에서 가장 큰 그룹입니다. 칼럼 민감도는 대개 1~10Hz에서 최고조에 이르며, 이 대역이 패시브 플랫폼이 가장 취약한 구간입니다.
이 장비군 설치 사례 122건 중 최신 30건
- 새론테크놀로지 SEMIRON 5000 SEM DVIA-MB1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-08-11
- 새론테크놀로지 SEMIRON 5000 SEM DVIA-MB1000 (S/N 170619R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-08-11
- YIMOTECH ZEISS EVO 10 SEM DVIA-U1000 설치 보고서 (2차 튜닝) — 적용 제품 DVIA-U10002026-08-11
- YIMO TECH Yidong Optics SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-08-05
- Changdi New Materials Technology Hitachi High-Tech SU3800SE FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-04
- Opton ZEISS EVO 15 UB700 설치 보고서 (181107R4) — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-26
- 광저우 생물섬 Thermoscientific Axia UB700 P3(181107R4-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-26
- Opton ZEISS EVO 15 UB700 P3 설치 보고서 (181218) — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-26
- YIMO 深圳维达力 Thermo Scientific Prisma E UB1000 P20 원격 튜닝 보고서 (210302R1) — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-26
- 울산테크노파크 ZEISS SEM EVO10 DVIA-UB700(220811R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-UB7002026-05-26
- 진해 국군재정관리단 ZEISS FE-SEM EVO10 DVIA-MB1000(230704R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-15
- 상하이 오포통 Thermo Scientific Axia SEM DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-05-14
- YIMOTECH Thermo Fisher Axia SEM DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-05-14
- Shanghai Opotong Instruments COXEM EM 40 DVIA-T56(260202R1-6) 재튜닝 보고서 — 적용 제품 DVIA-T562026-05-14
- YIMO Hainan Univeristy Thermo Fisher Axia ChemiSEM DVIA-MB1000(240201R3-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-11
- YIMO Zeiss Technology(Suzhou) ZEISS EVO 10 DVIA-MB1000(240304R8) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-05-11
- YIMO QIYUE TECHNOLOGY In situ SEM 660F DVIA-M1000(240411R7) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002026-05-11
- YIMO Ciqtek SEM 5000X DVIA-MO1000(241101R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-05-11
- 게데온 리히터(Gedeon Richter) JEOL SEM JSM-IT500HR DVIA-ML1000(250829R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-04-28
- KYKY SEM EM-8200 DVIA-ML1000 (250107R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-03-24
- Tier-1 Semiconductor 1층 분석실 SEM-Testbed DVIA-ULF700(250708R1-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF7002026-03-20
- Hitachi SU3800 SEM DVIA-ML1000(241016R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-03-10
- Hitachi SEM Hitachi SU3800SEPlus DVIA-ML1000 (250304R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-02-05
- YIMO ZEISS EVO 10 DVIA-ULF1000(251104R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF10002026-01-21
- YIMO JEOL SEM JSM-IT800 DVIA-ML1000(250801R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-01-09
- Safran JEOL JSM-IT800 DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-12-17
- 국방부 산하기관 Thermo Fisher Scientific SEM Prisma DVIA-ULF700 설치 보고서 — 호치민 (251023R8) — 적용 제품 DVIA-ULF7002025-12-12
- 게데온리히터 JEOL JSM-IT500HR DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-11-26
- YIMO Ciqtek HEM6000 고속 SEM DVIA-MB1000(250514R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002025-11-18
- YIMO Zeiss Technology(Suzhou) ZEISS EVO 10 SEM DVIA-M1000(240304R8) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-11-11
4.TEM · STEM (투과전자현미경)
투과형 칼럼은 높이가 커서 가장 엄격한 설치 기준을 요구하며, VC-E 이상이 요구되는 경우가 잦습니다.
이 장비군 설치 사례 75건 중 최신 30건
- YIMO TECH Broadcast and Television Metrology Thermo Fisher Talos FIB-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-08-12
- Ansteel Iron and Steel Research Institute Thermo Scientific Talos TEM DVIA-ML3000(251125R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-07-23
- YIMOTECH Hitachi HT7800 TEM DVIA-ML1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-07-01
- 광저우 GRG Thermo Fisher Talos TEM DVIA-ML3000(260128R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-04-22
- 서울대학교 Thermo Fisher Scientific Glacios Cryo-TEM DVIA-MB1000(210121R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MB10002026-03-31
- Gränges Aluminum Thermo Fisher Spectra 200 Cryo-STEM DVIA-ML3000(250211R4-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-03-06
- QRT DVIA-ML3000(251111R3) 설치 보고서 — 2026.03.04 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-03-04
- Hitachi HT7800 TEM DVIA-ML1000 설치 보고서 (2차 2026-01-21) — 적용 제품 DVIA-ML10002026-01-21
- 창평 P3 연구실 Thermo Fisher Scientific Cryo-TEM Krios G4 DVIA-MB3000(250708R5-1) 설치 보고서 — 2025년 11월 5일 — 적용 제품 DVIA-MB30002025-11-05
- Institute of Microsystems Thermo Fisher Scientific Talos F200 DVIA-M3000(250708R7) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M30002025-10-20
- Tier-1 Semiconductor Thermo Fisher Scientific S/TEM Spectra 300 DVIA-ML3000(241119R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002025-09-15
- YIMO Hitachi TEM HT7800 DVIA-M1000(240927R2-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-08-19
- Fudan University JEOL STEM JEM-ARM200F DVIA-M1000(241021R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-06-20
- 중국 지측과지물리연구소 Thermo Fisher TEM Spectra 300 DVIA-ML3000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002025-06-19
- 중국과학원 반도체연구소 Thermo Fisher Spectra 300 TEM DVIA-STONE-300(241119R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-STONE-3002025-06-09
- LSU Thermo Fisher S/TEM Spectra 200 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML Series2025-04-30
- YIMO HITACHI TEM HT7800 DVIA-M1000(241202R7) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-04-08
- 북경대학 회러우 Thermo Fisher Spectra 300 TEM DVIA-STONE-300(210824R1-1) 내부 프로그램 (측정 2025.03.27) — 적용 제품 DVIA-STONE-3002025-03-27
- DVIA-STONE-300PLUS(210824R1-2) Thermo Fisher Krios G4 — 내부 프로그램 셋업 (2025.03.27) — 적용 제품 DVIA-STONE-300PLUS2025-03-27
- Fudan University JEOL STEM ARM200 DVIA-MB3000(241021R4) 설치 보고서 — 2025.03.04 — 적용 제품 DVIA-MB30002025-03-04
- Fudan University JEOL STEM ARM200 DVIA-ML3000(241021R4) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML Series2025-03-04
- Xiamen Street Lighting Institute Thermo Fisher Scientific Talos DVIA-M-THT3(240807R5) 내부 프로그램 성능 측정 — 2024.12.05 — 적용 제품 DVIA-M-THT32024-12-05
- 厦门 Thermo Fisher Scientific Talos TEM DVIA-M-THT3(240807R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M-THT32024-11-18
- DVIA-STONE-300(240513R3) Thermo Fisher Spectra 300 — 내부 프로그램 (측정 2024.11.13) — 적용 제품 DVIA-STONE-3002024-11-13
- Thermo Fisher Spectra 300 S/TEM DVIA-STONE-300 — 深圳卫光, 2024-11-05 — 적용 제품 DVIA-STONE-3002024-11-06
- YIMO Biological Island Hui Ju Technology TEM N/A DVIA-M1000(240725R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002024-11-06
- DVIA-STONE-300(240413R3-1) Thermo Fisher Spectra 300 S/TEM — 내부 프로그램 셋업 (측정 2024.11.05) — 적용 제품 DVIA-STONE-3002024-11-05
- 절강대학교(닝보) Thermo Fisher Scientific Talos TEM DVIA-M-THT3(2405090R7-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M-THT32024-09-10
- DVIA-STONE-300(240513R3) Thermo Fisher Spectra 300 S/TEM — Southern University of Science and Technology (내부 프로그램, 2024.08.13) — 적용 제품 DVIA-STONE-3002024-08-13
- Thermo Fisher Spectra 300 S/TEM DVIA-MB3000(240415R3-2) — 深圳卫光, 2024-07-26 — 적용 제품 DVIA-MB30002024-08-07
5.AFM·프로브 장비
주사탐침 장비는 나노미터 이하의 움직임에도 반응하므로, 제진과 음향 차폐를 함께 해결해야 하는 경우가 많습니다.
이 장비군 설치 사례 47건 중 최신 30건
- Tier-1 Semiconductor 기흥 Bruker AFM NM-VI6 DVIA-P4000 설치 보고서 (VOC26-132) — 적용 제품 DVIA-P40002026-08-03
- YIMO TECH Epin Instruments Technology STM DVIA-MO1000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-06-22
- Tier-1 Semiconductor 평택 P4 3F Line B05 Bruker NM-VI DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-06-15
- Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 평택사업장 Bruker nm-VI DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-21
- 푸단대학교 STM DVIA-MO1000(221114R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-05-16
- 이정도연구소 STM DVIA-MO1000(230608R2) Set Up 보고서 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-05-15
- 유니소쿠 USM1400 STM DVIA-MB3000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M Series2026-05-12
- YIMO 서호대학교 custom STM DVIA-MO1000(240424R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-05-11
- YIMO Epin 상해 STM DVIA-MO1000(240930R7) 설치 보고서 — 2025-01-14 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-05-11
- YIMO Epin 상해 STM DVIA-MO1000(240930R7) 설치 보고서 — 2025-03-05 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-05-11
- Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 평택사업장 P4 3F Line B05 Bruker NM-VI DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-04-03
- Semilab AFM-2000 DVIA-ULFB350 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF Series2026-03-10
- YIMO Omicron STM DVIA-M1000(2309050R3) 설치 보고서 — Beijing Academy of Quantum Information Sciences — 적용 제품 DVIA-M10002026-01-23
- YIMO Shanghai Pumi PrMat STM DVIA-M1000(241101R2) 설치 보고서 — Huasheng Lianying Vibration Damping Platform — 적용 제품 DVIA-M10002026-01-23
- YIMO Unisoku STM DVIA-ML1000(250331R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002026-01-07
- YIMO 북항대(北京航空航天大学) Unisoku STM DVIA-ML1000(250730R1-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-12-12
- YIMO 북항대(北京航空航天大学) Unisoku STM DVIA-ML1000(250730R1-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-12-05
- Tier-1 Semiconductor 화성사업장 NRD Line 8F Bruker NM-VI DVIA-P4000 (036174) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2025-09-21
- 북경양자정보과학연구원 Omicron STM DVIA-M1000 / M1000F(230905R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002025-08-18
- Unisoku STM DVIA-M1000(250331R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-06-18
- Unisoku STM DVIA-M1000(250331R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M10002025-06-09
- Suzhou Institute of Nanotechnology Omicron STM DVIA-M-OST(240724R3) 내부 프로그램 성능 측정 — 2025.04.09 — 적용 제품 DVIA-M-OST2025-04-09
- 티어1 반도체 평택 P4 Bruker nm-VI DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002025-01-10
- 서울대학교 DVIA-T56(130123R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-T562024-12-12
- 연세대학교 Unisoki 저온 SPM USM1200 DVIA-ML1000(240821R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML10002024-11-21
- Suzhou Institute of Nanotechnology Omicron STM DVIA-M1000(240724R3) 내부 프로그램 — 2024.11.12 — 적용 제품 DVIA-M10002024-11-12
- Suzhou Institute of Nanotechnology Omicron STM DVIA-M1000(240724R3) 내부 프로그램 성능 측정 — 2024.10.10 — 적용 제품 DVIA-M10002024-10-10
- Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 평택사업장 Bruker nm-VI DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2024-09-26
- Unisoku USM1400SA STM DVIA-M-UST1 (230426R1-3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-M-UST12024-08-12
- Custom Equipment STM DVIA-MO1000(230608R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-MO10002024-07-06
6.반도체·디스플레이 계측
팹 내 장비는 하중이 크고 정착 시간이 짧아야 합니다. 안정성을 얻느라 처리량을 잃지 않아야 하기 때문입니다.
이 장비군 설치 사례 84건 중 최신 30건
- Tier-1 Semiconductor 이천 OLYMPUS 현미경 MX63L DVIA-T78(260819S1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-T782026-09-03
- Tier-1 Semiconductor 텍사스 Advantest E5620 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-08-14
- 에프에스티(FST) LAZIN LODAS-B18 포토마스크 블랭크 검사장치 DVIF-FB(241001R5) 설치 보고서 — 보강 후 성능 검증 — 적용 제품 DVIF-FB2026-08-13
- Tier-1 반도체 기흥 Hitachi In-Line SEM XF-1000 DVIA-P10000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P100002026-07-06
- Tier-1 Semiconductor 기흥 Hitachi In-Line SEM XF-1000 DVIA-P10000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P100002026-06-19
- YIMO Huahong FAB 9 ASML E-beam 웨이퍼 검사 시스템 eScan460 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-06-15
- Huahong Dongfang Jingyuan SEpA_i515 DVIA-P7000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P70002026-06-15
- HKSTP INNOPARK Dongfang Jingyuan DJEL CD SEM SepA-C310s DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-06-15
- Huahong ASML eScan460 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-06-11
- Tier-1 Semiconductor 2층 클린부스 DVIA-ULF700(250708R1-1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF7002026-05-26
- 티어1 반도체 수원 Nikon NSR-2205i12D DVIA-P7000 점검 보고서 — 적용 제품 DVIA-P70002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor Advanced Institute CDSEM S-9220T DVIA-P2200 점검 보고서 — 적용 제품 DVIA-P22002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor Advanced Institute Aligner MA-200C DVIA-P2200 점검 보고서 — 적용 제품 DVIA-P22002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 화성 ZEISS AIMs 32 DVIA-P4000(180306R4) 점검 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- 1차 반도체 Advantest E5610 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 화성 NRD AIMS 1x DVIA-P4000(190724R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 화성 Hitachi CG6300 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 평택 EUV 라인 ADVANTEST E5620 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 화성 NRD AIMS 1x DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 화성 NRD Line AlMs 1x DVIA-P4000(220804R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 기흥 SIX-3001 DVIA-P7000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P70002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 평택 P2 EUV ADVANTEST E5610 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-21
- YIMO Huahong ASML E-beam 웨이퍼 검사 시스템 eScan 460 DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- 토판 포토마스크 CLB KLA LMS IPRO4 DVIA-P4000(240607R3) 설치 보고서 — 2024년 9–10월 점검 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- Toppan Photomasks CLB KLA Reticle Pattern Placement Metrology LMS IPRO4 DVIA-P4000(240607R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor DSR 통합선행기술Lab 자체개발 장비 DVIA-C-P2200 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-C-P22002026-05-21
- Tier-1 Semiconductor 기흥 K2 S1 Tokyo Electron Precio XL DVIA-P4000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-05-20
- Tier-1 Semiconductor 종합 연구 단지(기흥) Hitachi CD-SEM CG4000 DVIA-P4000(181106R6) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P40002026-05-11
- Tier-1 Semiconductor Advanced Institute JEOL JBX-8100FS DVIA-P2200 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P22002026-05-11
- Tier-1 Semiconductor Advanced Institute JEOL JBX-9500FS DVIA-P7000 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-P Series2026-04-22
7.광학·레이저 및 기타 장비
광학 벤치·간섭계·범용 계측 장비로, 대개 광학 테이블이나 탁상형 플랫폼에 설치됩니다.
이 장비군 설치 사례 52건 중 최신 30건
- 한국전자통신연구원 Attocube AttoDRY 2100 저온챔버 DVIA-ULFB700 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFB7002026-08-21
- 코스모신소재 브루커 Contour X-500 광학 프로파일로미터 DVID-C (260415R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVID-C2026-08-05
- YIMOTECH Sensofar Sneox 광학 프로파일로미터 DVIA-ULFD350 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULFD3502026-07-20
- Tier-1 Semiconductor 기흥 ZEISS Xradia 520 Versa DVIA-ML3000(260319R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-07-14
- 현대자동차 Keyence Laser Confocal Microscope VK-3000 DVIA-TD45 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-TD452026-06-19
- Tier-1 Semiconductor ZEISS Xradia Versa 730 DVIA-ULF1500(260223R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ULF15002026-05-26
- Tier-1 Semiconductor 화성 ZEISS Xradia 730 Versa DVIA-ML3000(251107R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-04-03
- Laser Science DVIA-MO1000(211126R3-1) 설치 보고서 — 2026년 3월 20일 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-03-20
- Laser Science DVIA-MO1000(211126R3-2) 설치 보고서 — 2026년 3월 20일 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-03-20
- Laser Science DVIA-MO1000(211126R3-3) 설치 보고서 — 2026년 3월 20일 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-03-20
- Laser Science DVIA-MO1000(211126R3-4) 설치 보고서 — 2026년 3월 20일 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-03-20
- Laser Science DVIA-MO1000(211126R3-5) 설치 보고서 — 2026년 3월 20일 — 적용 제품 DVIA-MO10002026-03-20
- DIAT Pune India DVIA-MO1000 5기 벤치 설치 보고서 (시리얼 211126R3-1~5) — 적용 제품 DVIA-MO10002026-03-20
- Tier-1 전자부품 제조사 ZEISS Xradia 620 Versa DVIA-MB3000(201201R2) 설치 보고서 — 2026.02.09 — 적용 제품 DVIA-MB30002026-02-09
- Tier-1 Semiconductor 천안 C5 ZEISS Versa Xradia 630 Versa DVIA-ML3000(250917R1) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002026-01-06
- Tier-1 Semiconductor 이천 ZEISS Xradia 730 Versa DVIA-ML3000(250903R5) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002025-12-22
- 나노종합기술원 ZEISS X-ray Microscope Versa 630 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML Series2025-12-10
- Tier-1 Semiconductor DSR ZEISS Versa 630 X-ray 현미경 DVIA-ML3000(250625R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002025-08-18
- Tier-1 Semiconductor ZEISS Versa 620 X-ray 현미경 DVIA-MB3000(170515R4) 설치 보고서 — 2025.07.08 — 적용 제품 DVIA-MB30002025-07-08
- Tier-1 Semiconductor 천안 C5 ZEISS X-ray Microscope Versa 630 DVIA-ML3000(250225R3) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002025-06-09
- Tier-1 Semiconductor 청주 M11 ZEISS X-ray Microscope Xradia 630 Versa DVIA-ML3000(250225R2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-ML30002025-04-01
- 한국과학기술연구원 L7 222호 Olympus BX51 DVIA-UD350(220127R1-2) 설치 보고서 — 적용 제품 DVIA-UD3502024-12-31
- Tier-1 Semiconductor ZEISS Versa 630 3D X-ray 현미경 DVIA-MB3000(241011R1) 설치 보고서 — 2024.11.27 — 적용 제품 DVIA-MB30002024-11-27
- Tier-1 Semiconductor ZEISS TEM 630 VERSA DVIA-MB3000(171201R2) 설치 보고서 — 2024.11.11 — 적용 제품 DVIA-MB30002024-11-11
- Tier-1 Semiconductor ZEISS Xradia Context microCT DVIA-MB3000(240304R3) 설치 보고서 — 2024.04.02 — 적용 제품 DVIA-MB30002024-04-02
- KIST 현미경 DVIA-UD350 점검 보고서 — 적용 제품 DVIA-U Series2024-01-23
- Tier-1 Semiconductor ZEISS Xradia 620 Versa DVIA-MB3000(231005R2) 설치 보고서 — 2023.12.27 — 적용 제품 DVIA-MB30002023-12-27
- Tier-1 Battery Manufacturer 청주 클린룸 KEYENCE VK-X3000 DVIA-T45(230417R5) 출장 점검 및 진동 측정 보고 — 적용 제품 DVIA-T452023-08-18
- Yale School of Medicine Zeiss Versa 610 DVIA-MB3000 VEC (230110R4) 설치 보고서 — 2023.03.10 — 적용 제품 DVIA-MB30002023-03-10
- Shanghai Shumin 시안 간섭계 DVIA-MO1000(220707R7) 설치 보고서 — 2022년 12월 27일 — 적용 제품 DVIA-MO10002022-12-27