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설치 보고서
DVIA-ML Series
12-22-2025

Tier-1 Semiconductor Icheon ZEISS Xradia 730 Versa DVIA-ML3000 (250903R5) Installation Report

DVIA-ML Series
Installation Report
ZEISS
Xradia 730 Versa
X-ray Microscope
DVIA-ML3000

개요

Tier-1 Semiconductor 이천캠퍼스 P&T1에 설치된 DVIA-ML3000 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

고객사 장비 Turned off 상태로 튜닝 및 진동 측정을 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-ML3000

시리얼 넘버: 250903R5

엔지니어

대일시스템 개발팀 정성윤

튜닝 일자

2025년 12월 18일

보고서 작성일

2025년 12월 22일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 이천캠퍼스 P&T1

최종 사용자

Tier-1 Semiconductor

장비

Manufacturer: ZEISS

Equipment: X-ray Microscope

Model: Versa 730

장비 스펙

장비 상태

장비 설치 및 Turned Off

진동 측정 장비

10.1) Brüel & Kjær LAN-XI DAQ Type 3050 DAQ

Hardware: B&K Front End Type 3050-A-040

Software: B&K Pulse Labshop 22 Version

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

측정 설정

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Averaging: Spectrum Averaging

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Overlap: Max

결론

모든 방향에서 Spec을 만족합니다. 30Hz 부근 고주파 바닥 진동이 ISO 등급이며, 튜닝 후 VC-C 이하로 Spec-In 되는 것을 확인했습니다.

고객사 장비 X-Ray 촬영 시 정상적으로 운용되는 것을 확인했습니다.

측정 데이터

측정 장소상태사양측정값결과
바닥진동DVIA-ML3000바닥진동DVIA-ML3000
Tier-1 Semiconductor 이천캠퍼스 P&T1
1. 바닥진동
2. DVIA-ML3000
장비 설치 및 Turned OffVC-C수직ISO
@ 31.5 Hz
VC-C
@ 31.5 Hz
FAILPASS
좌우VC-B
@ 31.5 Hz
VC-C
@ 31.5 Hz
FAILPASS
전후VC-B
@ 31.5 Hz
VC-E
@ 31.5 Hz
FAILPASS

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

Front to Back Transmissibility

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)명확하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)해당 없음
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)해당 없음
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭의 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자 현미경(SEM/TEM) 포함 고정밀 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일의 E-Beam 리소그래피 등 최고 정밀 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.1.56 (62.5)해당 없음
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.0.78 (31.25)해당 없음

*참고:*

- 8-80 Hz (VC-A/B) 또는 1-80 Hz (VC-C ~ VC-G)에서 1/3 옥타브 밴드로 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 선폭 또는 의료 연구의 입자 크기를 의미함.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ML Series
작성일12-22-2025
태그
DVIA-ML Series
Installation Report
ZEISS
Xradia 730 Versa
X-ray Microscope
DVIA-ML3000