본문으로 바로가기
설치 보고서
DVIA-ML Series
04-03-2026

Tier-1 Semiconductor Hwaseong ZEISS Xradia 730 Versa DVIA-ML3000 (251107R2) Installation Report

DVIA-ML Series
Installation Report
ZEISS
Xradia 730 Versa
X-ray Microscope
DVIA-ML3000

개요

Tier-1 Semiconductor 화성캠퍼스 12/13라인 4F 연구실에 설치된 DVIA-ML3000에 대해 튜닝 및 진동 측정을 수행하였습니다.

장비 Turned on/IDLE 상태로 튜닝 및 진동 측정을 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-ML3000

시리얼 넘버: 251107R2

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

튜닝 일자

2026년 3월 30일

보고서 작성일

2026년 4월 3일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 화성캠퍼스 12/13라인 4F 연구실

최종 사용자

Tier-1 Semiconductor

장비

Manufacturer: ZEISS

Equipment: X-ray Microscope

Model: Xradia 730 Versa

장비 스펙

VC-C

장비 상태

장비 설치 및 Turned on/IDLE

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

측정 설정

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

모든 방향에서 진동 스펙을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소상태사양측정값결과
바닥진동DVIA-ML3000바닥진동DVIA-ML3000
Tier-1 Semiconductor 화성캠퍼스 12/13라인 4F 연구실
1. 바닥진동
2. DVIA-ML3000
Turned on/IDLEVC-C수직Operating Theatre
@ 8 Hz
VC-D
@ 8 Hz
FAILPASS
좌우VC-C
@ 4 Hz
VC-F
@ 4 Hz
PASSPASS
전후VC-C
@ 2.5 Hz
VC-F
@ 2.5 Hz
PASSPASS

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

Front to Back Transmissibility

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)명확하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)해당 없음
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)해당 없음
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭의 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자 현미경(SEM/TEM) 포함 고정밀 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일의 E-Beam 리소그래피 등 최고 정밀 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.1.56 (62.5)해당 없음
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.0.78 (31.25)해당 없음

*참고:*

- 8-80 Hz (VC-A/B) 또는 1-80 Hz (VC-C ~ VC-G)에서 1/3 옥타브 밴드로 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 선폭 또는 의료 연구의 입자 크기를 의미함.

이 케이스 스터디 공유하기

케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ML Series
작성일04-03-2026
태그
DVIA-ML Series
Installation Report
ZEISS
Xradia 730 Versa
X-ray Microscope
DVIA-ML3000