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설치 보고서
DVIA-P Series
01-10-2025

Tier-1 Semiconductor Pyeongtaek P4 Bruker nm-VI DVIA-P4000 Installation Report

DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Bruker
nm-VI
Photomask repair
DVIA-P4000
230207R1

개요

티어1 반도체 평택사업장 P4 3층 라인에 설치된 DVIA-P4000 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 안착 후 Turned on 상태로 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

DVIA-P4000을 노트북과 연결하여 UI software을 통해 피드백과 피드포워드 튜닝 및 Data Physics 측정장비를 이용하여 진동측정으로 성능점검을 진행했습니다.

Data를 VC-Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-P4000

시리얼 넘버: 230207R1

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원, 서종화

측정 날짜

2025년 01월 06일

설치 장소

티어1 반도체 평택 P4 3층 라인

End User

티어1 반도체

고객사 장비

Manufacturer: Bruker

Equipment: nm-VI

Model: Photomask repair

장비상태

장비 설치 및 Turned on

진동 스펙

VC-D

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

모든 방향에서 진동스펙을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향진동 스펙하부패드 측정값DVIA-P4000 측정값하부패드 결과DVIA-P4000 결과
티어1 반도체 평택 P4 3층 Line
1. 하부패드
2. DVIA-P4000
장비 설치 및 Turned onVerticalVC-DVC-D
@ 50 Hz
VC-F
@ 50 Hz
PASSPASS
Left to RightVC-DVC-C
@ 63 Hz
VC-F
@ 63 Hz
FAILPASS
Front to BackVC-DVC-C
@ 63 Hz
VC-G
@63 Hz
FAILPASS

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospecturm

Front to Back Transmissibility

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일01-10-2025
태그
DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Bruker
nm-VI
Photomask repair
DVIA-P4000
230207R1