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DVIA-M Series

빌트인 시스템.완벽한 이미징.

DVIA-M Series Built-In Active Vibration Isolation System

전자현미경에 완벽하게 통합되는 설계.

초정밀 전자현미경과 나노 계측 장비를 위한 세계 최고 수준의 빌트인 액티브 제어 시스템. 흔들림을 지배하는 보이지 않는 힘이, 당신의 거대한 장비 속에 완벽하게 스며듭니다.

가장 까다로운 현미경을 위한 통합 솔루션.

가장 엄격한 진동 허용 기준인 VC-G를 거뜬히 충족하며, 지원하는 모든 초정밀 현미경 카테고리에서 완전히 새로운 표준을 제시합니다. 기기마다 완벽을 위해 요구하는 제어의 기준은 저마다 다릅니다. 그리고 DVIA-M은, 그 모든 까다로운 조건에 완벽하게 맞춰지도록 맞춤 설계(Bespoke)됩니다.

SEM

Scanning Electron Microscope

드리프트 없는 나노 표면 이미징

50,000배 이상의 초고배율 뷰에서, 미세한 바닥 진동은 곧 치명적인 이미지 왜곡(Drift)과 번짐(Blur)으로 이어집니다. DVIA-M은 0.5Hz의 극저주파 진동부터 완벽히 지워냅니다. 전자빔을 타겟에 한 치의 오차 없이 고정시켜, 단 하나의아티팩트도 허락하지 않는 무결점 SEM 이미징을 완성하죠.

지원 제조사

Thermo Fisher · Zeiss · JEOL · Tescan · Hitachi · CIQTEK

TEM

Transmission Electron Microscope

원자 단위 분해능. 기계적 노이즈 제로.

HRTEM 및 STEM 모드는 서브 옹스트롬(Sub-angstrom) 수준의 경이로운 기계적 안정성을 요구합니다. 건물의 미세한 진동은 인간의 감각으론 느낄 수조차 없지만, 격자무늬(Lattice fringe)의 선명한 대비를 무너뜨리기엔 충분하죠. DVIA-M은 이 예민한 장비들이 그토록 갈망하는 절대적인 '기계적 침묵'을 선사합니다.

지원 제조사

Thermo Fisher · JEOL · Hitachi · Tescan · CIQTEK

AFM

Atomic Force Microscope

피코미터 토포그래피. 프로브 팁의 완벽한 정밀도.

AFM은 캔틸레버 팁과 샘플 간의 물리적 접촉으로 지형을 읽어냅니다. 아주 미세한 찰나의 흔들림조차 모두 치명적인 측정 노이즈가 되죠. 옹스트롬 이하의 압도적인 탐침 감도 앞에서는 건물 진동이 가장 거대한 오차의 원인입니다. DVIA-M은 바닥이라는 노이즈의 근원을 원천적으로 지워버립니다. 캔틸레버가 오직샘플의 표면만을 온전히 느낄 수 있도록.

지원 제조사

Bruker · Semilab · Oxford Instruments

모든 것을 압도하다.

Transmissibility Graph

0.5 Hz부터 제어.

최대1 Hz에서 90%최대VC-G

피드백은 보정하고. 피드포워드는 예측한다.

피드백은 장비의 흔들림을 측정해 실시간으로 상쇄합니다. 피드포워드는 바닥의 움직임을 한발 먼저 읽어내어, 진동이 도착하기도 전에 지워버리죠. 이 두 기술이 만나 완성한 전례 없는 저주파 제진 퍼포먼스. 이제 당신의 장비는 마치 애초에 진동이란 존재하지 않았던 것처럼, 완벽한 고요 속에서 작동합니다.

DVIA-M Series 액티브 제어 메커니즘

작동 원리

패시브 제어 (스프링 & 댐퍼):

액티브 제어 시스템 없이 스프링(k)과 댐퍼에만 의존한다면 어떨까요. 어떻게든 충격을 흡수하려 애쓰겠지만, 치명적인 저주파 대역에서는 오히려 바닥의 진동을 증폭시켜 장비 전 체를 요동치게 만드는 공진을 일으키고 맙니다.

피드포워드 제어:

지면 센서의 데이터를 활용해 액추에이터에 선제적인 명 령을 내립니다. 바닥에서 올라오는 진동이 소중한 장비에 채 닿기도 전에, 그 진동을 원천적으로 무효화해 버리죠.

피드백 제어:

장비에 아주 미세하게 남아있는 잔여 진동(y)마저 끊임없이 추적합니다. 그리고 즉각적으로 반응하는 액추에이터가 남 은 흔들림조차 실시간으로 완벽히 진동을 상쇄합니다.

두 개의 진보된 제어 기술이 하나로 맞물리는 순간, 제진 성능은 전혀 다른 차원으로 나아갑니다. 초정밀 장비는 어떤 환경 속에서도, 진동의 흔적조차 남기지 않습니다.

시스템 제어

Active

바닥 진동

피드포워드 제어

피드백 제어

나노스케일 정밀도를 위한
모든 세부 사항의 완벽한 설계.

원신호 입력
누락된 미세 진동
하드웨어 증폭
게인 증폭
소프트웨어 필터
0.3 Hz까지 추출

1단계: 원신호 입력

극미세 진동이 센서에 포착됩니다. 진폭이 매우 낮기 때문에 주변 노이즈에 묻히기 쉽습니다.

2단계: 하드웨어 증폭

DVIA-M 유닛이 아날로그 게인을 적용하여 전체 신호를 증폭합니다. 원하는 저주파 파형과 고주파 노이즈가 모두 증폭됩니다.

3단계: 소프트웨어 필터링

첨단 디지털 알고리즘이 0.3 Hz까지의 주파수만을 분리하여 유지하고, 노이즈를 완전히 제거하여 깨끗하고 판독 가능한 사인파를 남깁니다.

0.3 Hz부터 감지.

하드웨어 앰프가 저주파 게인을 끌어올리고, 디지털 필터가 신호를 섬세하게 다듬어냅니다. 이 완벽한 조화가 0.3 Hz라는 극한의 초저주파 대역까지 감지와 제진 성능을 확장합니다.

센서액추에이터장비DSP1800 MFLOPS최대 처리 속도입력 신호불규칙 진동고주파 대역서지 감지응답 시간0.5 ms실시간 제진액티브 - 최대 DSP

알아채기도 전에, 이미 반응하다.

초당 18억 번의 연산(1800 MFLOPS)을 수행하는 부동소수점 DSP가 진동 데이터를 실시간으로 처리합니다. 시스템의 반응 속도는 단 0.5밀리초(ms). 진동이 현미경에 닿으려 할 때쯤, 그 흔들림은 이미 지워진 지 오래입니다.

보이지 않는 흔들림마저 포착하다.

2.55 V/in/s의 경이로운 감도와 단 0.15%의 왜곡률을 지닌 11개의 지오폰(Geophone) 속도 센서. 다른 시스템이라면 속 수무책으로 놓쳐버릴 초저주파 진동마저 남김없이 잡아냅니다. 무시할 수 없다면, 철저히 지워내야 하니까요.

6축. 타협 없는 제어.

DVIA-M은 6자유도 전체를 제어합니다. 3축 병진, 3축 회전. 보정되지 않는 진동 경로는 없습니다. 알고리즘이 각 축을 독립 적으로 디커플링하여 크로스 커플링을 제거합니다. 서브 마이크 론 병진 안정성과 서브 마이크로라디안 각도 안정성이 동시에 완벽하게 유지됩니다.

자기장 제로. 깊은 침묵.

0.05 μT 미만의 극소 자기장. 전자빔은 아주 작은 자기장 간섭 에도 치명적인 영향을 받습니다. 그래서 DVIA-M은 완벽하게 '자기적 침묵(Magnetically silent)'을 지키도록 설계되었습니 다. 당신의 빔은 한 치의 굴절 없이 뻗어가고, 이미지는 변함없 이 선명할 것입니다.

사용자 인터페이스. 모니터링. 로깅. 데이터 검증.

DVIA-M UI는 6축 전체에 걸쳐 실시간 진동 레벨, 액추에이터 응답, 센서 출력을 표시합니다. 모든 데이터는 자동 로깅이 가능합니다. 과거 트렌드 검토, 리포트보내기, 또는 사양 대비 아이솔레이션 성능 검증이 언제든 가능합니다. 숨겨진 프로세스도, 블랙박스 알고리즘도 없습니다. 시설 팀이 시스템의 작동 상태, 응답 이유, 그리고 사양 대비 성능을 정확히 확인할 수 있습니다.

제진 성능

오토 스펙트럼

VC Curves

센서 및 액추에이터

Specifications

사양

DVIA-M1000
치수
장비 사양에 따른 맞춤 설계
최대 적재 하중
1500 kg
DVIA-M3000
치수
장비 사양에 따른 맞춤 설계
최대 적재 하중
3000 kg
공통 사양· 전 모델 공통
액티브 제어 메커니즘
피드백 및 피드포워드 제어
자유도
6 DOF (X, Y, Z, θx, θy, θz)
액티브 제진 대역폭
0.5 – 200 Hz
제진 성능
1 Hz에서 80 – 90%
액추에이터
전자기 액추에이터
최대 액추에이터 추력
수직 40 N · 수평 20 N
진동 센서
지오폰 · 감도 2.55 V/in/s (100.4 V/m/s) ± 10%
레벨링 반복정밀도
± 0.1 mm
컨트롤러
외장형
환경 보호 요구 사항
CE · TÜV
전원 요구 사항
100 – 260 V AC · 50/60 Hz
공기 요구 사항
4 – 6 bar · 유량 10 L/min
환경 요구 사항
온도 5 – 50 °C · 습도 20 – 90%

현장 검증 완료. 모든 성능 데이터는 통제된 환경에서 측정되었으며, 설치 시 현장에서 다시 확인됩니다. 치수 및 하중 용량은 장비 사양에 맞춰 맞춤 설계됩니다.

2D CAD 도면

통합 설계 및 시설 레이아웃 계획을 위한 기술 도면 다운로드.

DWG

DVIA-M1000

DWG · 0.8 MB

DWG

DVIA-M3000

DWG · 0.9 MB