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설치 보고서
DVIA-M Series
08-11-2026

SERON Technologies SEMIRON 5000 SEM DVIA-MB1000 Installation Report

DVIA-M Series
Installation Report
SERON Technologies
SEM
SEMIRON 5000
DVIA-MB1000
161117R3
Uiwang

개요

새론테크놀로지(의왕) 506호 연구실에 DVIA-MB1000 성능 점검 후 진동측정 진행하였습니다.

IDLE 상태로 점검 및 진동 측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-MB1000

시리얼 넘버: 161117R3

엔지니어

박동규, 박규민 · 대일시스템

튜닝 날짜

2026.08.11

설치 장소

새론테크놀로지(의왕) 506호 연구실

End User

고객사: 새론테크놀로지

고객사 장비

제조사: 새론테크놀로지

장비명: SEM

모델: SEMIRON 5000

진동 스펙

N/A

장비 상태

IDLE

진동 측정 장비

10.1) Measurement Equipment

하드웨어: B&K Front End Type 3040-A-040

소프트웨어: B&K Pulse Labshop22 Version

10.2) Accelerometer

PCB 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 2400

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

결론

새론테크놀로지 506호 연구실에 설치된 DVIA-MB1000(S/N: 161117R3) 장비에 대한 성능 점검 및 진동 측정 결과, X·Y·Z축 센서 신호와 Active 제진 성능 모두 정상 범위 내에서 안정적으로 작동하고 있음을 확인하였습니다.

측정 데이터를 VC Curve로 분석한 결과, X·Y·Z 세 축 모두 VC-G 등급 수준의 매우 우수한 제진 성능을 유지하고 있어 별도의 재튜닝 작업 없이도 운용이 가능한 상태입니다.

따라서 해당 제진대가 설치된 환경은 진동 측면에서 매우 양호하며, 새론테크놀로지의 SEM 장비인 'SEMIRON 5000'을 운용함에 있어 외부 진동으로 인한 영향 없이 안정적인 성능 구현이 가능할 것으로 판단됩니다.

측정 데이터 요약

측정 위치진동 스펙측정 축바닥DVIA-MB1000
1. 바닥
2. DVIA-MB1000
N/A수직(Z-axis)VC-DVC-G
좌우(X-axis)VC-DVC-G
전후(Y-axis)VC-DVC-G

측정 데이터

Z-axis Autospectrum

Z-axis VC Curves

X-axis Autospectrum

X-axis VC Curves

Y-axis Autospectrum

Y-axis VC Curves

장비 사진

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭(μm/s) (μin/s)세부 크기(μm)
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1-3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1-0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

참고:

1. 8~80Hz(VC-A 및 VC-B) 또는 1~80Hz(VC-C~VC-G) 주파수에 대한 1/3 옥타브 대역에서 측정됨.

2. 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 경우 폭, 의료 및 제약 연구의 경우 입자(세포) 크기 등을 나타냅니다. 이는 프로브 기술, AFM 및 나노기술과 관련된 이미징에 해당합니다.

이 표에 제공된 정보는 참고용입니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 응용 분야와 진동 요구 사항에 대해 잘 알고 있는 전문가의 조언을 구하는 것이 좋습니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일08-11-2026
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Installation Report
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SEMIRON 5000
DVIA-MB1000
161117R3
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