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설치 보고서
07-22-2026

Tier-1 Semiconductor 화성 Advantest DR-SEM E5610 DVIA-P4000 설치 보고서

DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Advantest
DR-SEM
E5610
DVIA-P4000
260204R5

보고서 정보

보고서: DVIA-P4000 Installation Report, S/N 260204R5

작성자: 박동규 · DAEIL SYSTEMS

설치 날짜: 2026.07.22

보고서 작성일: 2026.07.27

개요

Tier-1 Semiconductor 화성 V1 라인 3층에 DVIA-P4000 설치 후 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 설치 및 Turned on 상태로 점검 및 진동 측정 진행하였습니다.

Data를 Autospectrum(µm p-p)으로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-P4000

시리얼 넘버: 260204R5

엔지니어

박동규

박규민

튜닝 날짜

2026.07.22

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 화성 V1 라인 3층

End User

고객사: Tier-1 Semiconductor

고객사 장비

제조사: ADVANTEST

장비명: DR-SEM

모델: E5610

진동 스펙

주파수 [Hz]한도 [µm p-p]
0.5~101.0 이하
10~250.1 이하
25~1000.03 이하

장비 상태

장비 설치 및 Turned on

진동 측정 장비

Measurement Equipment

- 하드웨어: B&K Front End Type 3040-A-040

- 소프트웨어: B&K Pulse Labshop22 Version

Accelerometer

- PCB 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 2400

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

결론

점검 결과 제진대(DVIA-P4000) 상판은 X, Y, Z 축 모두 요구 스펙을 만족하였습니다. 바닥(Floor)의 경우 수직(Z-axis)과 전후(Y-axis)에서 요구 스펙을 초과하여 Fail로 측정되었습니다. 에어 배관 연결도 문제없이 연결되어 제진대에 문제없이 에어가 공급되는 것을 확인하였습니다.

측정 데이터 요약

측정 위치진동 스펙측정 축측정 결과
바닥DVIA-P4000
1. 바닥
2. DVIA-P4000
진동 스펙 절 참조수직(Z-axis)FailPASS
좌우(X-axis)PASSPASS
전후(Y-axis)FailPASS

측정 데이터

수직(Z-axis) Autospectrum

좌우(X-axis) Autospectrum

전후(Y-axis) Autospectrum

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭¹
μm/s (μin/s)
세부 크기²
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자 현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1-3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1-0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

¹ 8~80Hz(VC-A 및 VC-B) 또는 1~80Hz(VC-C~VC-G) 주파수에 대한 1/3 옥타브 대역에서 측정됨.

² 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 경우 폭, 의료 및 제약 연구의 경우 입자(세포) 크기 등을 나타냅니다. 이는 프로브 기술, AFM 및 나노기술과 관련된 이미징에 해당합니다.

이 표에 제공된 정보는 참고용입니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 응용 분야와 진동 요구 사항에 대해 잘 알고 있는 전문가의 조언을 구하는 것이 좋습니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일07-22-2026
태그
DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Advantest
DR-SEM
E5610
DVIA-P4000
260204R5