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설치 보고서
DVIA-M Series
03-12-2026

TESCAN Korea LeWest City TESCAN Amber FIB-SEM DVIA-ML1000 Installation Report

DVIA-M Series
Installation Report
TESCAN
TESCAN Korea
Amber
FIB-SEM
DVIA-ML1000

개요

르웨스트시티 B동 2F 테스칸 코리아 Demo룸, DVIA-ML1000 튜닝 및 진동 측정(장비 Turned on/IDLE). 측정 당시 TESCAN Amber 냉각팬이 제진대에서 가동 중이어서 측정에 영향을 줄 수 있음.

Data는 VC curve로 표기, 아래 참고에 일반 VC 기준 표기.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-ML1000 / 시리얼: 260212R2-1

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

튜닝 날짜

2026년 3월 12일

보고서 작성일

2026년 3월 13일

설치 장소

르웨스트시티 B동 2F 테스칸 코리아 Demo룸

고객사 장비

Manufacturer: TESCAN / FIB-SEM / Model: Amber

장비 스펙

30 Hz 이하: 12 µm/s / 30 Hz 초과: 24 µm/s

장비 상태

설치, Turned on/IDLE

진동 측정 장비

Data Physics DAQ: QUATTRO (22436), SignalCalc ACE / PCB 393B05

진동 측정 Setup

F Span 200 Hz, Lines 3200, Engineering units: m/s, Window Hanning, FFT Spectrum Averaging, Exponential 40

결론

냉각팬 영향으로 일부 구간에서 바닥보다 제진대 상부 진동이 더 크게 보일 수 있으나, 제진대 결함이 아닌 장비 측 진동으로 해석. 모든 방향에서 스펙 만족.

측정 데이터 요약

측정 장소상태방향측정값(바닥)측정값(DVIA)결과
Demo룸On/IDLE수직(곡선 참고)VC-C @ 31.5 / VC-E @ 31.5PASS / PASS
좌우(곡선 참고)VC-F @ 3.15 / VC-G @ 3.15PASS / PASS
전후(곡선 참고)VC-E @ 20 / VC-G @ 20PASS / PASS

데이터·이미지 — 수직·좌우·전후 VC / Narrow / 전달률

수직 VC-curves

수직 Autospectrum

수직 전달률

좌우 VC-curves

좌우 Autospectrum

좌우 전달률

전후 VC-curves

전후 Autospectrum

전후 전달률

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일03-12-2026
태그
DVIA-M Series
Installation Report
TESCAN
TESCAN Korea
Amber
FIB-SEM
DVIA-ML1000