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설치 보고서
DVIA-M Series
10-31-2025

STATSCHIPPACK Korea TESCAN SOLARIS X FIB-SEM DVIA-ML1000 (250824R1) Installation Report

DVIA-M Series
Installation Report
STATSCHIPPACK
TESCAN
FIB-SEM
SOLARIS X
DVIA-ML1000

개요

스태츠칩팩코리아 실험실에 설치된 DVIA-ML1000 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 설치 및 Turned on 상태에서 진동측정 및 튜닝 진행하였습니다.

제진대 상부에 설치된 장비내에 액티브 제진대가 설치되어 있었으며, 장비로부터 바람과 진동이 존재하였습니다. 이는 튜닝 및 진동측정에 영향을 줄 수 있습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-ML1000

시리얼 넘버: 250824R1

담당 엔지니어

대일시스템 개발팀 박동규

튜닝 일자

2025년 10월 24일

보고서 작성일

2025년 10월 31일

End User

스태츠칩팩코리아

튜닝 횟수

N/A

설치 위치

스태츠칩팩코리아 실험실

장비

Manufacturer: TESCAN

Equipment: FIB-SEM

Model: SOLARIS X

장비 상태

Turned on

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 사양

10 um/s<30 Hz

20 um/s>30 Hz

진동 측정 Setup

F Span: 200

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Average Mode: Exponential, 40

Tuning Request

N/A

측정 요약

측정 장소상태방향바닥 진동DVIA-ML1000측정 결과측정 결과
스태츠칩팩 코리아 실험실장비설치 / Turned onVerticalVC-E @ 31.5 HzVC-F @ 31.5 HzPASSPASS
스태츠칩팩 코리아 실험실장비설치 / Turned onLeft to RightVC-F @ 63 HzVC-G @ 31.5 HzPASSPASS
스태츠칩팩 코리아 실험실장비설치 / Turned onFront to BackVC-C @ 31.5 HzVC-F @ 31.5 HzPASSPASS

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

수직 전달률

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

좌우 전달률

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

전후 전달률

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

2. 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일10-31-2025
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STATSCHIPPACK
TESCAN
FIB-SEM
SOLARIS X
DVIA-ML1000