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설치 보고서
DVIA-M Series
07-08-2025

Tier-1 Semiconductor ZEISS Versa 620 X-ray Microscope DVIA-MB3000 (170515R4) Installation Report — 2025.07.08

DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
ZEISS
X-ray Microscope
Versa 620
DVIA-MB3000
170515R4

개요

Tier-1 Semiconductor 천안캠퍼스 C5 1층 분석실에 설치된 DVIA-MB3000의 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 Turned on/IDLE 상태로 튜닝 및 진동 측정을 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-MB3000

시리얼 넘버: 170515R4

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 서종화

측정 날짜

2025년 07월 08일

보고서 작성일

2025.07.10

End User

Tier-1 Semiconductor

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 천안캠퍼스 C5 1층 분석실

장비 상태

장비 Turned on/IDLE

고객사 장비

Manufacturer: ZEISS

Equipment: X-ray Microscope

Model: Versa 620

진동 측정 장비

9.1) Data Physics DAQ

Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

Software: SignalCalc ACE

9.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

장비 진동 스펙

결론

모든 방향에서 Spec을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소상태진동 스펙방향Floor (측정값)DVIA-MB3000 (측정값)Floor (결과)DVIA-MB3000 (결과)
Tier-1 Semiconductor 천안캠퍼스C5 1층 분석실1. Floor
2. DVIA-MB3000
장비 Turned on/IDLEVC-CVerticalVC-B@ 10 HzVC-F@ 10 HzFAILPASS
Left to RightVC-E@ 16 HzVC-G@ 16 HzPASSPASS
Front to BackVC-D@ 16 HzVC-G@ 16 HzPASSPASS

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospecturm

Front to Back Transmissibility

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
상세 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미량 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭의 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자 현미경(SEM/TEM) 등 고정밀 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 최고 정밀 시스템에 적합.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8-80 Hz의 1/3 옥타브 밴드에서, VC-C부터 VC-G는 1-80 Hz에서 측정됩니다.

2. 상세 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 선폭 또는 의료 연구의 입자 크기를 의미합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일07-08-2025
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
ZEISS
X-ray Microscope
Versa 620
DVIA-MB3000
170515R4