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설치 보고서
09-29-2026

LG이노텍 나노시스템 백색광 간섭계 DVIA-ULF1000 설치 보고서

DVIA-ULF Series
Installation Report
LG Innotek
LG이노텍
NanoSystem
White-Light Interferometer
DVIA-ULF1000
260821S1

개요

LG이노텍 구미사업장 4공장 2층 클린룸에 DVIA-ULF1000 설치 후 튜닝 및 성능확인 진행하였습니다.

IDLE 상태로 점검 및 진동 측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-ULF1000

시리얼 넘버: 260821S1

엔지니어

박규민 · 대일시스템

튜닝 날짜

26.09.29

설치 장소

구미사업장 4공장 2층 클린룸

End User

LG이노텍

고객사 장비

제조사: 나노시스템

장비명: 정밀 계측설비(백색광 간섭계)

모델: -

진동 스펙

-

장비 상태

IDLE

진동 측정 장비

Hardware: DVIA-ULF1000

Software: Monitor_TU_6DOF

결론

1) 설치 및 진동 감쇠 성능 (IDLE 상태)

설치 개요: LG이노텍 구미사업장 4공장 2층 클린룸 내 나노시스템 정밀 계측설비(백색광 간섭계)에 DVIA-ULF1000 설치 및 튜닝을 완료하였습니다.

IDLE(정적) 성능: 측정 결과 Z축(수직) VC-F, X축(좌우) VC-E, Y축(전후) VC-D 수준을 확보하여 우수한 진동 절연 성능을 확인하였습니다.

2) 현장 조치 및 동적 성능 테스트 진행 경과

1일차 (9/28):

초기 설치 및 튜닝 후, 정적 상태에서의 성능 및 스테이지 구동 시 편심 변화에 따른 안정성 검증을 시도하였습니다.

상부 장비 하부의 레벨풋 최단 길이가 ULF 유닛 높이와 유사하여, 스테이지 구동시 레벨풋과 바닥 간 간섭(충돌) 이슈가 발생하여 높이 보정을 위해 익일 재작업으로 연계되었습니다.

2일차 (9/29):

제진대 유닛 하부에 rubber isolation pad를 배치해 높이를 확보한 후, 재설치 및 재튜닝을 완료하였습니다.

실제 계측 성능 검증: 더미 웨이퍼(Dummy Wafer) 투입 및 레시피 구동(X·Y축 스테이지 이동) 후 스테이지 정지조건에서 성능 실측 테스트 결과, 기존 대비 진동이 대폭 개선되어 정상 설비 운용이 가능함을 확인하였습니다.

3) 추후 진행 및 권고사항

유닛 위치 고정: 연속적인 스테이지 구동 시 발생할 수 있는 유닛 위치 이탈 및 탑재장비 낙상 방지를 위해 바닥 앵커 볼트 고정을 권장합니다.

측정 데이터 요약

Measurement PointVibration SpecificationAxisFloorDVIA-ULF1000
1. Floor
2. DVIA-ULF1000
See Section 8VerticalOperating Theatre (ISO)VC-F
Left to RightOperating Theatre (ISO)VC-E
Front to BackOperating Theatre (ISO)VC-D

측정 데이터

Vertical (Z-axis)

Z-axis — Autospectrum

Z-axis — VC Curves

Left to Right (X-axis)

X-axis — Autospectrum

X-axis — VC Curves

Front to Back (Y-axis)

Y-axis — Autospectrum

Y-axis — VC Curves

설치 사진

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭
(μm/s) (μin/s)
세부 크기
(μm)
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A400배 광학 현미경, 마이크로밸런스, 광학 밸런스, 근접·투영 정렬기 등에 대부분 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피·검사 장비(중간 감도 전자현미경 포함), TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정에 적합한 표준입니다.12.5 (500)1-3
VC-D다수의 전자현미경(SEM/TEM) 및 E-Beam 시스템 등 까다로운 장비에 대부분 적합합니다.6.25 (250)0.1-0.3
VC-E달성하기 까다로운 기준. 장경로·레이저 기반·소형 타겟 시스템, 나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간에 적합. 대부분의 경우(특히 클린룸) 달성이 어려움. 설계 기준이 아닌 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간에 적합. 대부분의 경우(특히 클린룸) 달성이 어려움. 설계 기준이 아닌 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

참고:

1. VC-A 및 VC-B는 8~80Hz, VC-C~VC-G는 1~80Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

2. 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료·제약 연구에서의 입자(셀) 크기 등을 의미하며, 프로브 기술·AFM·나노기술과 연관된 이미징에 관한 것입니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
작성일09-29-2026
태그
DVIA-ULF Series
Installation Report
LG Innotek
LG이노텍
NanoSystem
White-Light Interferometer
DVIA-ULF1000
260821S1