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설치 보고서
DVIA-ULF Series
05-26-2026

Tier-1 Semiconductor ZEISS Xradia Versa 730 DVIA-ULF1500 (260223R2) Installation Report

DVIA-ULF Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
ZEISS
Xradia Versa 730
DVIA-ULF1500
260223R2

고객사

Tier-1 Semiconductor

작성자

엔지니어: 이채원

설치 날짜 (표지)

26.05.07

보고서 작성일

26.05.14

개요

Tier-1 Semiconductor DSR C타워 3층 연구실에 설치된 DVIA-ULF1500 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 Turned off 상태로 점검 및 진동 측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-ULF1500

시리얼 넘버: 260223R2

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

튜닝 날짜

2026년 5월 7일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor DSR C타워 3층 연구실

End User

Tier-1 Semiconductor

고객사 장비

Manufacturer: ZEISS

Equipment: X-ray Microscope

Model: Xradia Versa 730

장비 스펙

VC-C

장비상태

장비 설치 및 Turned off

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

모든 방향에서 진동 스펙을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향진동 스펙바닥진동DVIA-ULF1500바닥진동 결과DVIA-ULF1500 결과
Tier-1 Semiconductor DSR C타워 3층 연구실
1. 바닥진동
2. DVIA-ULF1500
Turned offVerticalVC-CVC-B @ 10 HzVC-D @ 10 HzFAILPASS
Left to RightVC-E @ 10 HzVC-F @ 10 HzPASSPASS
Front to BackVC-D @ 25 HzVC-F @ 25 HzPASSPASS

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospecturm

Front to Back Transmissibility

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ULF Series
작성일05-26-2026
태그
DVIA-ULF Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
ZEISS
Xradia Versa 730
DVIA-ULF1500
260223R2