도입사례
대일시스템은 전 세계에서 가장 까다로운 나노 스케일 이미징 및 정밀 계측 현장을 위한 액티브 제진 시스템을 설계하며, 수많은 설치 리포트를 통해 그 흔들림 없는 성능을 매일 증명하고 있습니다.
시리즈
장비 유형
제조사
전체 도입사례
서울대학교 JEOL JBX-8100FS DVIA-P4000 설치 보고서
서울대학교 JEOL JBX-8100FS DVIA-P4000 설치 보고서
YIMO JEOL SEM JSM-IT800 DVIA-ML1000(250801R2) 설치 보고서
JEOL SEM JSM-IT800 DVIA-ML1000(시리얼 250801R2) 설치 보고서. 개요에는 플랫폼이 적절히 설치되어 의도한 대로 작동함이 기재됨. 양식상 진동 사양(Tuning Request)은 화면 캡처 및 본문 N/A; 고객·설치 위치 등 공란은 N/A. 축별 Autospectrum·전달률(UI 프로그램), 현장 장비 사진.
YIMO ZEISS FIB-SEM Crossbeam 550 DVIA-ML1000(240603R6) 설치 보고서
YIMO 경로 ZEISS FIB-SEM Crossbeam 550 DVIA-ML1000(시리얼 240603R6) 설치 보고서. 개요는 공개 양식과 동일. 장비 상태 The equipment is turned on/IDLE. 원문에 측정 요약 표 없음. 튜닝 요청 칸 공란(N/A). 게시 그림은 진동 사양 UI 캡처와 UI 프로그램 수직·좌우·전후 Autospectrum·Transmissibility이며, 표지·헤더 장식 래스터는 제외. 장비 사진은 원문에 Photo Not Allowed로 기재되어 게시하지 않음. Reference는 표준 일반 진동 기준 마크다운 표만 제공(EMF 참조 그림 미게시).
YIMO ZEISS Sigma 300VP DVIA-MB1000 설치 보고서 (시리얼 160706R1, 2026-01-07)
ZEISS FE-SEM Sigma 300VP 적용 DVIA-MB1000 시리얼 160706R1 설치 보고서입니다. 튜닝 2025-12-24, 보고서 작성 2026-01-07, 작성 이채원(DAEIL SYSTEMS). 게시 그림은 DOCX §2a 매핑에 따라 **진동 사양** 절 UI 캡처, **데이터 및 이미지** 절의 수직·좌우·전후 전달률 곡선, 이후 장비 사진 순입니다. 웹사이트 줄 직후 표제 장식 래스터(image1)는 공개하지 않으며, 참고 절은 일반 진동 기준 마크다운 표만 게시합니다(image7.emf 미게시).
Tier-1 전자부품 제조사 부산사업장 — TESCAN CLARA FE-SEM DVIA-MB1000 (161213R2) 설치 보고서 — 2026-01-07
DVIA-MB1000(시리얼 161213R2)가 Tier-1 전자부품 제조사 부산사업장 A6동 3층 수입검사실로 이전 설치된 뒤 진행한 튜닝·진동측정 보고서입니다. 점검 2026-01-06, 작성 2026-01-07입니다. 수직·좌우·전후 방향 VC 곡선·Autospectrum·Transmissibility 플롯 9매를 게시합니다. 제목 블록 상단 장식 이미지와 참고자료 절의 일반 VC 기준 그림bitmap은 게시하지 않고 기존 마크다운 기준표를 사용합니다.
Goertek Inc. ZEISS Sigma 300 DVIA-U1000(220919R6-1) 설치 보고서
Goertek Inc. · ZEISS FE-SEM Sigma 300용 DVIA-U1000(시리얼 220919R6-1) 재튜닝 워크시트(튜닝 2025년 12월 19일, 보고서 작성 2026년 1월 7일, Chaewon Lee). 개요는 Z축 oscillation 및 gain 감소 조치; 위치 "-" (N/A). 수직·좌우·전후 Transmissibility UI 화면만 게시; 장비 사진 Photo Not Allowed; 헤더 장식 비트맵·Reference EMF 생략, Reference는 VC 표만.