도입사례
대일시스템은 전 세계에서 가장 까다로운 나노 스케일 이미징 및 정밀 계측 현장을 위한 액티브 제진 시스템을 설계하며, 수많은 설치 리포트를 통해 그 흔들림 없는 성능을 매일 증명하고 있습니다.
시리즈
장비 유형
제조사
전체 도입사례
Tier-1 Semiconductor JSM-7800F PRIME DVIA-MB1000(P46) 진동환경 측정 — 2017.07.05
Tier-1 Semiconductor 수원 거점 JSM-7800F PRIME SEM에 대한 DVIA-MB1000(MB1000 프로그램 P46) 진동환경 측정 자료입니다. 출장 2017-06-30, 보고 2017-07-05, 담당 임종욱 대리(대일시스템)입니다. 게시: 장비 맥락 사진 및 Z·X·Y 축 진동환경 그래프입니다. Word 표지 블록의 장식용 헤더 래스터는 게시하지 않습니다.
Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 수원 진동환경 측정 결과(JEOL JSM-7800F 현장) — 2017-07-05
2017년 Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 수원 사업장 진동환경 측정: 바닥·ACTIVE 제진대 상부 VC-Class 요약과 Z/X/Y 1/3 옥타브 그래프, 현장 장비 사진을 게시합니다.
상해 재료연구소 ZEISS Gemini 500 DVIA-MB1000(P64) 설치 출장 보고 — 2017.07.02
상해 ZEISS Gemini 500 현장에 대한 MB1000 P64 출장 양식 자료입니다(출장 2017-06-29·보고 2017-07-02·대일시스템 최성원). VC-Class 요약 표(Base/Top/ACTIVE), 원문 요약 불릿, MB1000 내부 프로그램 Z·X·Y 그래프, 진동환경 측정 Z·X·Y 그래프를 게시합니다. 표지 중앙 장식용 가로 래스터(408×83)는 게시하지 않았습니다.
중국 출장 보고서 — MB1000_P43 셋업 및 T56 NMR 테스트(2017년 6월)
임종욱 대리 작성일 17.06.26, 출장 17.06.20~17.06.23 중국 출장 기록입니다. NEMO Office에서 T56 센서 교체·수리·점검, China Normal University MB1000_P22 점검, Hudan University에서 T56 NMR 동작 확인(첨부 #1·SUS304 관찰), 우시(Wuxi)에서 MB1000_P43 셋업 및 진동환경측정(첨부 #2·ZEISS SIGMA HD, END USER QUALCOMM)을 원문 순서에 맞춰 정리했습니다.
Tier-1 Semiconductor 천안 엔지니어룸 DVIA-MB3000(P4) 진동환경 측정 — 2017.06.16
2017년 6월 16일 Tier-1 Semiconductor 천안 엔지니어룸에서 DVIA-MB3000(P4) 진동환경 측정. 탑재장비 STANDBY 상태에서 바닥·제진대 상판을 각각 측정하고 VC-CLASS로 요약, 수직·수평 축별 VC-CLASS 그래프 포함. 대일시스템 최성원 대리.
화남이공대학교 ZEISS SIGMA 300 VP DVIA-MB1000(P19) 중국 광저우 출장 보고 — 2017.06.05
DVIA-MB1000(MB1000 P19)·대상 장비 ZEISS SIGMA 300 VP·종 사용자 화남이공대학교(중국 광저우, 대학 연구동 1층 클린룸)에 대한 한글 양식 중국 출장 보고서입니다. 출장 2017-06-01~2017-06-03, 2017-06-05 작성, 출장자 임종욱 대리입니다. 제목 블록 직후 현장 사진(DOCX image2·§2a), MB1000 내부 프로그램 Z·X·Y 화면(image3~5), 진동환경 Z·X·Y 그래프(image6~8)를 게시합니다. 중앙 장식 타이틀 래스터(image1)는 게시하지 않았습니다.