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도입사례

대일시스템은 전 세계에서 가장 까다로운 나노 스케일 이미징 및 정밀 계측 현장을 위한 액티브 제진 시스템을 설계하며, 수많은 설치 리포트를 통해 그 흔들림 없는 성능을 매일 증명하고 있습니다.

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전체 도입사례

총 1,246건
국가정보센터 베이징 FEI SCIOS DVIA-MB1000(P41) 중국 출장 셋업 — 2017.03.20

종 사용자 국가정보센터, 대상 장비 FEI SCIOS, 설치·측정 장소 중국 베이징의 MB1000 P41 출장 양식입니다. 현장 보안으로 진동 측정은 불가했고 셋업과 MB1000 내부 프로그램 성능 확인만 수행했습니다. 공개 갤러리에는 보고서 제목 직후의 현장 사진과 Z·X·Y축 내부 프로그램 성능 화면을 포함하며, 제목 위 중앙 장식 그림은 기술 정보가 아니어서 생략했습니다.

KPSNC DVIA-M 형식(MB1000) 설치 시험 자료 — 2017.03.17

2017년 KPSNC(< USER : KPSNC >) 대상 DVIA-M 형식(MB1000) 설치 시험 자료입니다. 설치·측정 2017.03.17, 보고 2017.03.20, 담당 LIM JONG UK(대일시스템)입니다. 응집성 포함 전달률(Z·X·Y) 및 옥타브 밴드(Z·X·Y) 그래프를 게시합니다. 원문 표지쪽은 문자만 있으며 별도의 게시용 도면 블록은 없습니다.

DVIA-M 형식(MB1000) 설치 시험 자료 — 전달률(2017-03-09)

내부 설치 시험용 짧은 워크시트로, 일정·보고 일자·DVIA-M 형식(MB1000)에 대한 Z/X/Y 전달률 및 coherence 성능 그래프만 포함합니다. 원문에 측정 요약표나 Reference 절은 없습니다.

HITACHI SU8010 SEM DVIA-MB1000(MB1000_P40) 진동환경 측정 — 엠코 테크놀러지 코리아 — 2017.01.20

인천 송도 엠코 테크놀러지 코리아 HITACHI SU8010 SEM에 대한 MB1000_P40 한글 워크시트: 출장·보고·담당 정보, 개요, 측정일·측정자, 측정장소·장비 모델, 측정 조건, 일반·악의 환경 조건별 VC-Class 요약 표, 요약 서술, 각 조건별 Z·X·Y 진동환경 VC-Class 그래프. 측정 2017.01.19, 보고 2017.01.20, 담당 대일시스템 임종욱 주임. 인쇄 제목 블록 앞 장식 배너 래스터는 게시 제외. 원문에 내장 프로그램 전달률 그래프 및 별도 Reference 절은 없습니다.

Tier-1 Semiconductor TESCAN SEM(MIRA 3) DVIA-MB1000(MB1000 P39) 진동환경 측정 — 2017.01.18

Tier-1 Semiconductor 부산사업장에서 TESCAN MIRA 3 SEM을 대상으로 한 MB1000 프로그램 P39 진동환경 측정 자료입니다(제진대 설치 후). 출장 2017-01-18, 보고 2017-01-20, 담당 대일시스템 임종욱 주임입니다. DOCX §2a 매핑: 「타겟 장비 : TESCAN MIRA3」 접두 줄 하단의 장비 문맥 그림(media image2.figure_01)과 Z/X/Y VC-Class 진동레벨 그림(image3~5→figure_02~04)을 게시합니다. 문서 시작부 중앙 장식 이미지(image1)는 게시하지 않습니다.

FEI Nova NanoSEM 450 DVIA-MB1000(MB1000 P31) 중국 출장 결과 보고서 — 작성 2017.01.16

MB1000 P31·FEI Nova NanoSEM 450 출장 결과 양식(작성 2017-01-16, 출장 17.01.11~17.01.14, 출장자 최형문 대리·임종욱 주임)입니다. 현장 작업 상태 사진과 VC-Class 요약, MB1000 내부 프로그램 Z·X·Y 화면, 진동환경 측정 Z·X·Y 그래프를 원문 순서로 게시하고, 표지 블록 전용 장식용 가로 배너 래스터는 생략했습니다.