도입사례
대일시스템은 전 세계에서 가장 까다로운 나노 스케일 이미징 및 정밀 계측 현장을 위한 액티브 제진 시스템을 설계하며, 수많은 설치 리포트를 통해 그 흔들림 없는 성능을 매일 증명하고 있습니다.
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전체 도입사례
Tier-1 Semiconductor ZEISS Xradia 620 Versa DVIA-MB3000(231005R2) 설치 보고서 — 2023.12.27
DVIA-MB3000(시리얼 231005R2) 2023년 12월 27일 Tier-1 Semiconductor 현장, ZEISS Xradia 620 Versa X-ray Microscope 설치 보고서. 바닥·액티브 조건 VC 곡선 등급 표, 축·대역별 Floor/Active VC 플롯, VC 곡선과 메르칼리 진도 비교 해설 포함 Reference. 대일시스템 Jongwon Park, 튜닝·작성일 23.12.27.
Tier-1 Semiconductor 기흥 SR1 ZEISS AIMS 1X DVIA-P4000 (190104R4) 점검 보고서
Tier-1 Semiconductor 기흥 SR1 ZEISS AIMS 1X DVIA-P4000 (190104R4) 장비 IDLE 및 Power off 상태 비교 점검·진동·전달률 보고서.
Tier-1 Semiconductor 기흥 SR1 Bruker AFM NM-VI DVIA-P4000 점검 보고서
Tier-1 Semiconductor 기흥 SR1 Bruker AFM NM-VI DVIA-P4000 점검 보고서 (시리얼 200805R3)
Integrated Service Technology ZEISS Gemini 560 DVIA-M1000(230927R4) 세팅 — 상하이
IST 형식 현장표 — DVIA-M1000 시리얼 230927R4, 상하이 ZEISS FE-SEM Gemini 560 (세팅 2023.12.18, 보고 2023.12.19). 원문 게시 플랫 설치 사진 및 M1000 프로그램 Z·X·Y축 결과 캡처.
Tier-1 Semiconductor Advanced Institute SAIT Nikon NSR-2205i12D DVIA-P7000 점검 보고서
Tier-1 Semiconductor Advanced Institute SAIT 클린룸 A동: DVIA-P7000(140416R6-2) Nikon NSR-2205i12D 스테퍼 점검·IDLE 상태 진동 측정, VC 요약·전달률·센서 점검 보고.
Tier-1 Semiconductor 화성 Bruker AFM NM-4 DVIA-P4000 (036174) 점검 보고서 — 2023년 12월
Tier-1 Semiconductor 화성 NRD Line 8F Bruker AFM NM-4 적용 VAAV-4000H(시리얼 036174, SAC-07) SHOWA 양식 점검·진동 측정 보고서(점검 2023년 12월 14일, 작성 2023년 12월 18일). Floor·Active VC 요약 표, 변위·가속도 그래프, 축별 전달률·VC 곡선, 레귤레이터·유닛 사진을 게시합니다.