도입사례
대일시스템은 전 세계에서 가장 까다로운 나노 스케일 이미징 및 정밀 계측 현장을 위한 액티브 제진 시스템을 설계하며, 수많은 설치 리포트를 통해 그 흔들림 없는 성능을 매일 증명하고 있습니다.
시리즈
장비 유형
제조사
전체 도입사례
Jiangsu Youzhong Microna 남통 ZEISS Sigma360 FE-SEM DVIA-M1000(240207R5) 설치 보고서
Jiangsu Youzhong Microna 남통 현장 DVIA-M1000(시리얼 240207R5) 설치 보고서. 개요에는 플랫폼이 적절히 설치되어 의도한 대로 작동함이 기재됨. End User 양식 N/A. ZEISS FE-SEM Sigma360, 장비 상태 The equipment is installed/Turned off. 튜닝 요청 UI 캡처와 수직·좌우·전후 전달률 플롯, 11절 현장 장비 사진; Reference는 표준 VC 기준 표(공개 본문에는 별도 기준 곡선 그림 없음).
Suzhou Xiangcheng Enterprise Technology Hitachi SU8600 FE-SEM DVIA-M1000(240304R7) 설치 보고서
중국 Suzhou, Suzhou Xiangcheng Enterprise Technology Co., Ltd. 현장 DVIA-M1000(시리얼 240304R7) 설치 보고서. 개요에는 플랫폼이 적절히 설치되어 의도한 대로 작동함이 기재됨. Hitachi FE-SEM SU8600, 장비 상태 The equipment is installed / Turn Off. 담당 Chaewon Lee, 튜닝 일자 2024년 11월 5일. 튜닝 요청 UI 캡처·수직·좌우·전후 전달률·현장 장비 사진을 공개. 원본 양식에 End User·진동 사양 절 없음. Reference는 표준 VC 기준 마크다운 표.
YIMO Zeiss Technology(Suzhou) ZEISS EVO 10 DVIA-MB1000(240304R8) 설치 보고서
YIMO Zeiss Technology(Suzhou) ZEISS EVO 10 DVIA-MB1000(240304R8) 설치 보고서.
YIMO 시안 West Test ZEISS Sigma 360 DVIA-MB1000(240314R3) 설치 보고서
YIMO 시안 West Test ZEISS Sigma 360 DVIA-MB1000(240314R3) 설치 보고서.
YIMO BYD Semiconductor ZEISS Crossbeam 550 FIB-SEM DVIA-M1000(240314R6) 설치 보고서
BYD Semiconductor 청두 ZEISS FIB-SEM Crossbeam 550 DVIA-M1000(시리얼 240314R6) 설치 보고서. 개요에는 플랫폼이 적절히 설치되어 의도한 대로 작동함이 기재됨. 공개 양식에 별도 진동 사양 절·측정 요약 표는 없음. 장비 상태 The equipment is installed. 튜닝 요청 UI 캡처, 축별 전달률·현장 장비 사진·Reference 일반 진동 기준은 표로 제공.
YIMO DVIA-MB1000(240327R3) ZEISS GeminiSEM 360 설치 보고서
YIMO DVIA-MB1000(240327R3) ZEISS GeminiSEM 360 설치 보고서.