도입사례
대일시스템은 전 세계에서 가장 까다로운 나노 스케일 이미징 및 정밀 계측 현장을 위한 액티브 제진 시스템을 설계하며, 수많은 설치 리포트를 통해 그 흔들림 없는 성능을 매일 증명하고 있습니다.
시리즈
장비 유형
제조사
전체 도입사례
한두패키지 하이록스 현미경 DVIA-MO1000(P20) 진동환경 측정 결과 — 2016-05-02
인천 남동공단 한두패키지 현장에서 하이록스 현미경용 MO1000_P20 제진대 설치 뒤 2016-04-30 측정한 진동환경 양식입니다. 제진대 설치 현장 사진, 장비 관련 이미지, 바닥·제진대 상부 VC-Class 요약, 3축 VC 곡선, 내장 프로그램 전달률(전 방향 약 −30 dB), Active 동작 이미지를 게시했으며 문서 상단 가로 배너 래스터만 생략했습니다.
HITACHI SEM SU3500 DVIA-MB1000(MB1000 P12) 중국 출장 결과 보고서 — 2016.04.08
HITACHI SEM SU3500·MB1000 P12 기준 중국 출장(16.04.05~16.04.07, 출장자 최형문·임종욱, 작성 2016.04.08) 워크시트입니다. 게시 이미지는 DOCX §2a에 따라 타겟 장비 줄 직후 현장 사진(image2), 내장 프로그램 Z·X·Y(image3~5), 진동환경 Z·X·Y(image6~8), 장비 이미지 OFF·ON(image9~10), JEOL 2100F 협의 자료(image11~12), FEI TEM 협의 도면(image13~15) 순입니다. 표지 장식 래스터(image1)는 생략했습니다. 원문에 진동 사양·별도 Reference·Generic Vibration Criteria 절이 없어 추가하지 않았습니다.
DVIA-M 타입(MB1000) 설치 테스트 — NEMO — 2016-04-08
NEMO 제공 MB1000 양식 DVIA-M type (MB1000) Installation Test Report(설치·측정 2016-04-06, 보고 2016-04-08·Daeil Systems LIM JONG UK). 설치 결과 요약 본문·불릿은 DOCX 추출본과 동일하며, 그림은 DOCX §2a 단락 순서로 게시했다 — 내부 프로그램 전달률(rId6–8→image1–3), PULSE 1/3 옥타브 대역(rId9–11→image4–6), Image Check ACTIVE OFF·ON 장비 확인(rId12–13→image7–8).
Tier-1 Semiconductor DVIA-MB3000 P5 진동환경 측정 — 화성 NRD동 (2016.03.30)
2016년 3월 30일 Tier-1 Semiconductor 화성사업장 NRD동 6층에서 DVIA-MB3000 P5 설치 후 진동환경을 측정한 결과입니다. 바닥과 제진대 상부의 VC-CLASS 요약, 해설, 장비 허용진동 기준 다이어그램(수직·수평), Z/X/Y 진동환경 VC-CLASS 그래프를 포함합니다. Reference는 일반 진동 기준 마크다운 표만 사용합니다.