설치 보고서
DVIA-M Series
06-16-2017
Tier-1 Semiconductor Cheonan Engineer Room DVIA-MB3000 (P4) Vibration Measurement — 16 Jun 2017
DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
DVIA-MB3000
P4
Cheonan Engineer Room
Contents
개요
제진대 설치 후 진동환경을 측정하여 장비 사용에 문제가 없는지 확인함.
측정일: 2017. 06. 16(금), 측정자: 대일시스템 최성원 대리
측정장소: 천안 Tier-1 Semiconductor 엔지니어룸
측정 조건 및 결과
측정 조건: MB3000의 상판과 연구실 바닥을 각각 측정하였음. 탑재장비는 STAND-BY 상태. 측정결과는 VC-CLASS로 표시함.
측정결과 요약
| 측정 위치 | Z | X | Y |
|---|---|---|---|
| 바닥 | C | E | E |
| 제진대 상부 | E | F | E |
바닥진동환경은 수직축이 C-CLASS, 수평축이 E-CLASS로 수직축을 제외하면 양호한 수준.
제진대 적용 결과 모든 방향의 VC-CLASS가 E-CLASS 이상으로 양호함.
진동환경 VC-CLASS 그래프
수직축(Z) 진동레벨
수평축(X) 진동레벨
수평축(Y) 진동레벨
이 케이스 스터디 공유하기
케이스 스터디 정보
카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일06-16-2017
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
DVIA-MB3000
P4
Cheonan Engineer Room
관련 케이스 스터디
DVIA-M Series
Tier-1 Semiconductor ZEISS Versa 620 X-ray Microscope DVIA-MB3000 (170515R4) Installation Report — 2025.07.08
07-08-2025자세히
DVIA-M Series
Tier-1 Semiconductor ZEISS Versa 630 3D X-ray Microscope DVIA-MB3000 (241011R1) Installation Report — 2024.11.27
11-27-2024자세히
DVIA-M Series
Tier-1 Semiconductor ZEISS TEM 630 VERSA DVIA-MB3000 (171201R2) Installation Report — 2024.11.11
11-11-2024자세히