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설치 보고서
09-11-2026

ZEISS Sigma 360 FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서

DVIA-M Series
Installation Report
Zhejiang A&F University
ZEISS
FE-SEM
Sigma 360
DVIA-ML1000
260617R6-1
Hangzhou

개요

Hangzhou(杭州)에 DVIA-ML1000을 설치한 후 튜닝과 진동 측정을 진행했습니다.

장비가 Turned off 상태일 때 진동 측정을 수행했습니다.

데이터는 Autospectrum 형태로 제시하며, 진동 수준에 대한 참고 자료도 함께 제공합니다.

제진대 정보

모델: DVIA-ML1000

시리얼 넘버: 260617R6-1

엔지니어

Younguk KIM · 대일시스템

튜닝 날짜

2026.09.11

End User

Zhejiang A&F University(浙江农林大学)

튜닝 횟수

1st

설치 장소

Hangzhou(杭州)

고객사 장비

제조사: ZEISS

장비: FE-SEM

모델: Sigma 360

진동 스펙

Horizontal

주파수 [Hz]허용치 [mm/s² RMS]
10.04
100.04
100.17
200.17
200.3
700.3
702
1002

Vertical

주파수 [Hz]허용치 [mm/s² RMS]
10.03
80.03
80.15
450.15
452
1002

장비 상태

Turned off

튜닝 요청

결론

설치 바닥과 DVIA-ML1000 능동 제진 시스템 상판, 두 위치에서 진동 측정을 수행하고 9절에서 정의한 기준에 따라 평가했습니다.

튜닝 시작 시점에 이미 바닥 진동이 VC-G 기준(약 100 nm/s) 아래로 측정되어, 설치 환경 자체가 매우 낮은 주변 진동 조건임을 의미합니다. 이러한 조건에서는 능동 제진 시스템이 감쇠할 수 있는 입력 진동이 본질적으로 매우 작기 때문에, 고객이 요구한 2–10 Hz 구간의 -20 dB 감쇠를 물리적으로 달성하기 어렵습니다. 이 결과는 제진 시스템의 성능 부족이 아니라 측정 환경의 특성에서 기인한 것입니다.

튜닝 완료 후, 바닥 진동이 VC-G 아래인 상황에도 불구하고 SEM에서 이미지가 흔들리는 현상이 관찰되었다는 고객 피드백이 있었습니다. 이에 대한 설명을 제공했습니다: 설치된 ZEISS Sigma 360이 요구하는 진동 스펙은 VC-E 수준이며, 측정된 환경은 이 요구 사항을 큰 여유로 충족하고 있습니다. 따라서 이러한 조건에서도 이미지 품질이 여전히 달성되지 않는다면, 원인은 진동 격리 환경보다 장비 자체의 상태에 있는 것으로 판단됩니다.

이후 End User가 SEM 이미지를 직접 확인하여 확인해 주었고, 이를 통해 세션을 종료했습니다.

측정 데이터 요약

측정 위치진동 스펙측정 축결과
바닥DVIA-ML1000
1. 바닥
2. DVIA-ML1000
9절 참조Vertical✓ PASS✓ PASS
Left to Right✓ PASS✓ PASS
Front to Back✓ PASS✓ PASS

UI 프로그램으로 획득한 측정 데이터

Vertical

Vertical — Autospectrum

Left to Right

Left to Right — Autospectrum

Front to Back

Front to Back — Autospectrum

설치 사진

장비

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭
µm/s (µin/s)
세부 크기
µm
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자 현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1–3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1–0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

¹ 8–80 Hz(VC-A, VC-B) 또는 1–80 Hz(VC-C~VC-G) 주파수 구간의 1/3 옥타브 대역에서 측정.

² 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조 시 폭, 의료·제약 연구 시 입자(세포) 크기 등을 나타내며, 프로브 기술·AFM·나노기술 관련 이미징에는 해당하지 않습니다.

이 표의 정보는 참고용으로 제시됩니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 적용과 진동 요구 사항에 정통한 전문가의 조언을 구할 것을 권장합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일09-11-2026
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Zhejiang A&F University
ZEISS
FE-SEM
Sigma 360
DVIA-ML1000
260617R6-1
Hangzhou