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설치 보고서
08-24-2026

ZEISS Gemini SEM 560 FE-SEM DVIA-ML1000 설치 보고서

DVIA-M Series
Installation Report
Korea Water Resources Corporation
ZEISS
FE-SEM
Gemini SEM 560
DVIA-ML1000
260316R3

개요

한국수자원공사 5동 수질센터 1층 클린룸에 DVIA-ML1000 설치 후 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

IDLE 상태로 점검 및 진동 측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대 정보

모델: DVIA-ML1000

시리얼 넘버: 260316R3

엔지니어

김태헌, 박규민 · 대일시스템

튜닝 날짜

2026.08.24

설치 장소

한국수자원공사 5동 수질센터 1층 클린룸

End User

한국수자원공사

고객사 장비

제조사: ZEISS

장비: FE-SEM

모델: Gemini SEM 560

진동 스펙

Horizontal

수평 허용 진동값 (Resolution 0.5 Hz):

주파수 [Hz]허용치 [µm/s rms]
10 이하5 미만
10 ~ 6010 미만
60 초과14 미만

Vertical

수직 허용 진동값 (Resolution 0.5 Hz):

주파수 [Hz]허용치 [µm/s rms]
10 이하4 미만
10 ~ 6014 미만
60 초과20 미만

장비 상태

IDLE

진동 측정 장비

하드웨어: QUATTRO, Serial Number: 22436

소프트웨어: SignalCalc ACE

Accelerometer: PCB 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 2400

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

결론

본 건은 2026년 8월 24일 한국수자원공사 5동 수질센터 1층 클린룸에서 2차 튜닝 진행하였습니다.

액티브(Active) 튜닝을 최대한으로 적용하여 안정성을 확보하였으며, 결과적으로 ZEISS사의 FE-SEM 진동 규격(Spec)을 충족시켰습니다.

최종 튜닝 완료 후 ZEISS 측에서 FE-SEM을 구동하여 해상도 확인 테스트를 진행한 결과, 진동으로 인한 이슈 없이 정상적인 성능이 구현됨을 최종 확인하였습니다.

측정 데이터 요약

측정 위치진동 스펙측정 축결과
바닥DVIA-ML1000
1. 바닥
2. DVIA-ML1000
8절 참조Vertical (Z-axis)✓ PASS✓ PASS
Left to Right (X-axis)✓ PASS✓ PASS
Front to Back (Y-axis)✓ PASS✓ PASS

측정 데이터

Vertical (Z-axis)

Z-axis — Autospectrum

Left to Right (X-axis)

X-axis — Autospectrum

Front to Back (Y-axis)

Y-axis — Autospectrum

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭
µm/s (µin/s)
세부 크기
µm
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자 현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1-3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1-0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

¹ 8–80 Hz(VC-A, VC-B) 또는 1–80 Hz(VC-C~VC-G) 주파수 구간의 1/3 옥타브 대역에서 측정.

² 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조 시 폭, 의료·제약 연구 시 입자(세포) 크기 등을 나타내며, 프로브 기술·AFM·나노기술 관련 이미징에는 해당하지 않습니다.

이 표의 정보는 참고용으로 제시됩니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 적용과 진동 요구 사항에 정통한 전문가의 조언을 구할 것을 권장합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일08-24-2026
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Korea Water Resources Corporation
ZEISS
FE-SEM
Gemini SEM 560
DVIA-ML1000
260316R3