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설치 보고서
DVIA-M Series
05-29-2025

Tier-1 Semiconductor Zeiss Gemini 2 FE-SEM DVIA-MB1000 (231128R4) Installation Report

DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Zeiss
Gemini 2
FE-SEM
DVIA-MB1000
231128R4
Yongin

개요

Tier-1 Semiconductor 용인캠퍼스에 설치된 DVIA-MB1000 튜닝 및 진동측정 진행했습니다.

장비 Turned on 및 IDLE 상태로 진동측정 및 튜닝 진행하였습니다.

Data를 VC-Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-MB1000

시리얼 넘버: 231128R4

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 서종화

튜닝 날짜

2025년 05월 29일

보고서 작성일

25.05.29

End User

Tier-1 Semiconductor

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 용인캠퍼스 R&D동

고객사 장비

Manufacturer: Zeiss

Equipment: FE-SEM

Model: Gemini 2

진동 스펙

N/A

장비 상태

장비 Turned on 및 IDLE

튜닝 횟수

1st

진동 측정 장비

11.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

11.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

Bandwidth: 200 Hz

Lines: 3200

Averaging: Spectrum Averaging

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Overlap: 90

결론

Vertical: 1 Hz에서 바닥 진동이 VC-F에서 VC-G로 감쇠되었습니다.

Left to Right: 1 Hz에서 바닥 진동이 VC-F에서 VC-G로 감쇠되었습니다.

Front to Back: 1 Hz에서 바닥 진동이 VC-F에서 약 45% 감쇠되었습니다.

결과요약

측정 장소장비상태방향바닥DVIA-MB1000
위치: Tier-1 Semiconductor 용인캠퍼스
1. 바닥
2. DVIA-MB1000
Turned on/IDLEVerticalVC-F
@ 1 Hz
VC-G
@ 1 Hz
Left to RightVC-F
@ 1 Hz
VC-G
@ 1 Hz
Front to BackVC-F
@ 1 Hz
VC-F
@ 1 Hz

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Narrow Band

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Narrow Band

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Narrow Band

Front to Back Transmissibility

장비 사진

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일05-29-2025
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Zeiss
Gemini 2
FE-SEM
DVIA-MB1000
231128R4
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