본문으로 바로가기
설치 보고서
08-27-2026

RAITH Voyager E-Beam DVIA-ML1000 설치 보고서

DVIA-M Series
Installation Report
Dingxin Optoelectronics Technology
RAITH
E-Beam
Voyager
DVIA-ML1000
260422R1-1
Suzhou

개요

쑤저우에 DVIA-ML1000을 설치한 후 튜닝과 진동 측정을 진행했습니다.

장비가 Idle 상태일 때 진동 측정을 수행했습니다.

데이터는 Autospectrum 형태로 제시하며, 진동 수준에 대한 참고 자료도 함께 제공합니다.

제진대 정보

모델: DVIA-ML1000

직렬 번호: 260422R1-1

엔지니어

Younguk KIM · 대일시스템

튜닝 날짜

2026.08.27

End User

Dingxin Optoelectronics Technology (苏州鼎芯光电)

튜닝 횟수

1st

설치 장소

Suzhou

고객사 장비

제조사: RAITH

장비: E-Beam

모델: Voyager

진동 스펙

Horizontal

주파수 [Hz]허용치 [µm/s RMS]
1.60.8
160.8
161
1001

Vertical

주파수 [Hz]허용치 [µm/s RMS]
1.60.8
160.8
161
1001

장비 상태

Idle

튜닝 요청

N/A

결론

설치 바닥과 DVIA-M-RVE 능동 제진 시스템 상판, 두 위치에서 진동 측정을 수행하고 9절에서 정의한 기준에 따라 평가했습니다.

바닥 레벨에서는 세 축(Vertical, Left to Right, Front to Back) 모두 지정된 기준을 충족하지 못해, 주변 바닥 조건만으로는 설치된 장비의 운전 요구 사항을 충족하기 부족함을 의미합니다.

DVIA-M-RVE 설치 후 제진 시스템에서 측정한 Vertical과 Front to Back 축은 지정된 기준을 충족합니다. 그러나 Left to Right (X) 축은 약 9 Hz에서 발생하는 공명으로 기준을 벗어나고 있으며, 이는 제진 시스템 위에 설치된 장비의 기계적 간섭으로 추정됩니다. 이 기계적 간섭의 원인이 특정되고 최소화되는 대로 재튜닝을 수행하여 전 축에서 완전한 기준 충족을 달성할 예정입니다.

측정 데이터 요약

측정 위치진동 스펙측정 축결과
바닥DVIA-M-RVE
1. 바닥
2. DVIA-ML1000
9절 참조Vertical✗ FAIL✓ PASS
Left to Right✗ FAIL✗ FAIL
Front to Back✗ FAIL✓ PASS

UI 프로그램으로 획득한 측정 데이터

Vertical

Vertical — Autospectrum

Left to Right

Left to Right — Autospectrum

Front to Back

Front to Back — Autospectrum

설치 사진

장비

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭
µm/s (µin/s)
세부 크기
µm
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자 현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1–3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1–0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

¹ 8–80 Hz(VC-A, VC-B) 또는 1–80 Hz(VC-C~VC-G) 주파수 구간의 1/3 옥타브 대역에서 측정.

² 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조 시 폭, 의료·제약 연구 시 입자(세포) 크기 등을 나타내며, 프로브 기술·AFM·나노기술 관련 이미징에는 해당합니다.

이 표의 정보는 참고용으로 제시됩니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 적용과 진동 요구 사항에 정통한 전문가의 조언을 구할 것을 권장합니다.

이 케이스 스터디 공유하기

케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일08-27-2026
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Dingxin Optoelectronics Technology
RAITH
E-Beam
Voyager
DVIA-ML1000
260422R1-1
Suzhou