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설치 보고서
DVIA-M Series
01-08-2025

Tier-1 Semiconductor Hitachi SEM SU7000 DVIA-ML1000 (240919R8) Installation Report

DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Hitachi
SEM
SU7000
DVIA-ML1000
240919R8

개요

Tier-1 Semiconductor 청주 4캠퍼스 M4층 연구소에 설치된 DVIA-ML1000 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 설치 및 Turned off 상태로 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-ML1000

시리얼 넘버: 240919R8

담당 엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

튜닝 일자

2025년 01월 03일

보고서 작성일

2025년 01월 08일

End User

Tier-1 Semiconductor

튜닝 횟수

N/A

설치 위치

Tier-1 Semiconductor 청주 4캠퍼스 M15 4M 연구소

장비

제조사: Hitachi

장비: SEM

모델: SU7000

장비 스펙

Horizontal: VC-G, Vertical: VC-F

장비 상태

장비 설치 및 Turned off

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

모든 방향에서 진동 스펙을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향FloorDVIA-ML1000
Tier-1 Semiconductor 청주 4캠퍼스 M15 4M 연구소
1. Floor
2. DVIA-ML1000
장비 설치/ Turned offVerticalVC-A @ 12.5 HzVC-G @ 12.5 Hz
Left to RightVC-D @ 4 HzVC-G @ 4 Hz
Front to BackVC-D @ 4 HzVC-G @ 4 Hz

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

Front to Back Transmissibility

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일01-08-2025
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Hitachi
SEM
SU7000
DVIA-ML1000
240919R8