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설치 보고서
DVIA-T Series
11-27-2025

WONIK IPS DVIA-T78 (211213R1) Installation Report

DVIA-T Series
Installation Report
WONIK IPS
DVIA-T78
211213R1

엔지니어

엔지니어: 박동규

측정 날짜

2025년 11월 25일

보고서 작성일

2025년 11월 27일

개요

원익 IPS 진위 사업장 4F wafer 분석실에 설치된 T78의 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 설치 및 Turned on/IDLE 상태로 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

T78의 상판과 바닥의 진동 측정 한번, T78위에 장비내 바닥 진동측정 한번 하여 총 두번의 진동측정을 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-T78

시리얼 넘버: 211213R1

필드 엔지니어

대일시스템 개발팀 박동규

설치 장소

원익 IPS 진위 사업장 4F wafer 분석실

End User

원익 IPS

고객사 장비

Manufacturer: BRUKER

Equipment: Nano Indentation tester

Model: TS77

장비 스펙

VC-C

장비상태

장비 설치 및 Turned on/IDLE

진동 측정 장비

10.1) Brüel & Kjær LAN-XI DAQ Type 3050 DAQ

-Hardware: B&K Front End Type 3050-A-040

-Software: B&K Pulse Labshop 22 Version

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

Bandwidth: 200 Hz

Lines: 3200

Averaging: Spectrum Averaging

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Overlap: Max

결론

DVIA-T78은 모든 방향에서 스펙을 만족합니다.

바닥 진동은 Vertical 축의 Spec out을 제외하면 모든 방향에서는 스펙을 만족 합니다.

장비 바닥의 진동도 모든 방향에서 스펙을 만족합니다.

측정 데이터

13.1) 측정데이터 1

측정 장소상태방향바닥진동DVIA-T78바닥진동DVIA-T78
원익 IPS 진위 사업장 4F wafer 분석실
1. 바닥진동
2. DVIA-T78
Turned on/IDLEVerticalVC-B @ 6 HzVC-E @ 70 HzFailPass
Left to RightVC-D @ 3 HzVC-G @ 1 HzPassPass
Front to BackVC-D @ 3 HzVC-G @ 70 HzPassPass

13.2) 측정데이터 2

측정 장소상태방향측정값
장비바닥진동
원익 IPS 진위 사업장 4F wafer 분석실
1. 장비 바닥진동
Turned on/IDLEVerticalVC-F @ 2 Hz
Left to RightVC-F @ 10 Hz
Front to BackVC-E @ 10 Hz

데이터&이미지

14.1) 측정 데이터1

Vertical VC Curves (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Vertical Autospectrum (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Vertical Transmissibility (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Left to Right VC Curves (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Left to Right Autospectrum (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Left to Right Transmissibility (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Front to Back VC Curves (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Front to Back Autospecturm (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

Front to Back Transmissibility (Red: 바닥 진동, Blue: DVIA-T78)

14.2) 측정데이터& 이미지 2

Vertical VC Curves (Red: 장비 바닥 진동)

Vertical Autospectrum (Red: 장비 바닥 진동)

Left to Right VC Curves (Red: 장비 바닥 진동)

Left to Right Autospectrum (Red: 장비 바닥 진동)

Front to Back VC Curves (Red: 장비 바닥 진동)

Front to Back Autospecturm (Red: 장비 바닥 진동)

참고자료

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
Detail Size
μm
Workshop (ISO)Distinctly perceptible vibration. Appropriate to workshops and non-sensitive areas.800 (32,000)N/A
Office (ISO)Perceptible vibration. Appropriate to offices and non-sensitive areas.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)Barely perceptible vibration. Appropriate to sleep areas in most instances.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)Vibration not perceptible. Suitable for surgical suites, microscopes to 100x.100 (4,000)25
VC-AAdequate for optical microscopes to 400x, microbalances, optical balances.50 (2,000)8
VC-BAppropriate for inspection and lithography equipment to 3μm line widths.25 (1,000)3
VC-CAppropriate for optical microscopes to 1000x, lithography equipment to 1μm.12.5 (500)1 - 3
VC-DSuitable for demanding equipment including electron microscopes (SEMs/TEMs).6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-EFor the most demanding systems including E-Beam lithography at nanometer scales.3.12 (125)< 0.1
VC-FFor extremely quiet research spaces. Not recommended as design criterion.1.56 (62.5)N/A
VC-GFor extremely quiet research spaces. Not recommended as design criterion.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8–80 Hz 1/3 옥타브 밴드로 측정하고, VC-C부터 VC-G는 1–80 Hz에서 측정합니다.

2. Detail size는 전자 장비 제조 공정에서의 라인폭 또는 의학 연구에서의 입자 크기를 의미합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-T Series
작성일11-27-2025
태그
DVIA-T Series
Installation Report
WONIK IPS
DVIA-T78
211213R1