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설치 보고서
09-08-2026

KimTechnix Keyence VK-X4000 레이저 스캐닝 공초점 현미경 DVIA-TD45(260616R5) 설치 보고서

DVIA-T Series
Installation Report
KimTechnix
Keyence
VK-X4000
Laser Scanning Confocal Microscope
DVIA-TD45
260616R5

개요

본 보고서는 킴테크닉스 연구실에 설치된 DVIA-TD45의 튜닝 및 진동 측정 결과를 기술한 것입니다.

측정은 제진대 적용 전 데스크 진동, 패시브(Passive) 제진 상태, 능동(Active) 제진 상태의 세 가지 조건으로 구분하여 진행하였으며, 이를 통해 제진대 적용에 따른 진동 저감 효과를 비교 분석하였습니다. 상부 장비인 Keyence VK-X4000은 Idle 상태에서 점검 및 측정을 수행하였습니다.

측정 데이터는 Autospectrum 및 VC Curve로 표기하였으며, 13항의 IEST-RP-CC012.2 분류 기준과 함께 현재 진동 수준에 대한 Reference 자료로 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-TD45

시리얼 넘버: 260616R5

엔지니어

김태헌 · 대일시스템

튜닝 날짜

2026.09.08

설치 장소

킴테크닉스 연구실

End User

킴테크닉스

고객사 장비

제조사: Keyence

장비명: VK-X4000

모델: Laser Scanning Confocal Microscope

장비 상태

Idle

진동 측정 장비

Measurement Equipment

하드웨어: Bruel & Kjaer Type 3050-A-040

소프트웨어: Pulse 22

Accelerometer

PCB 393B05 2EA(Top, Base)

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 2400

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

결론

본 측정은 DVIA-TD45 적용에 따른 진동 저감 효과를 정량적으로 확인하기 위하여, ① 제진대 미적용 상태의 데스크 진동, ② 해당 진동이 입력되는 패시브(Passive) 제진 상태, ③ 능동(Active) 제진 활성화 상태의 세 가지 조건으로 구분하여 진행하였으며, 각 조건의 측정 데이터를 Autospectrum 및 VC Curve로 비교 분석하였습니다.

측정 결과, 제진대 미적용 시 데스크 상판에서 확인되었던 주요 공진 성분(약 12 Hz)은 패시브 제진 상태에서 1차적으로 저감되었으며, 능동 제진 활성화 시 해당 공진 성분이 추가로 억제되어 전 주파수 대역에서 안정적인 진동 레벨을 확보하였습니다. 특히 패시브 제진만으로는 저감이 제한적인 저주파(10 Hz 이하) 영역에서 능동 제진의 효과가 뚜렷하게 확인되었습니다.

최종 진동 수준은 수직(Z-axis), 좌우(X-axis), 전후(Y-axis) 전 방향에서 VC-F 등급 이내로 측정되었습니다. IEST-RP-CC012.2 분류상 VC-F 및 VC-G는 특정 장비군이 지정되지 않은 구간으로, 장비군이 규정된 최하위 기준인 VC-E(3.12 μm/s)보다도 낮은 진동 수준에 해당합니다. 고배율 광학 현미경 및 전자 현미경급 장비가 포함되는 VC-C(12.5 μm/s) 및 VC-D(6.25 μm/s) 기준과 비교하면 충분한 여유를 확보한 상태입니다.

또한 제진대 미적용 상태에서 확인되었던 공진 성분이 능동 제진 활성화 시 유효하게 억제됨을 확인하였으므로, 현재 설치 상태에서 Keyence VK-X4000 운용에 진동에 기인한 제약 요소는 관찰되지 않았습니다.

다만 본 판단은 상기 분류 기준 및 측정 시점의 환경 조건을 근거로 한 것으로, 장비 제조사가 별도의 설치 진동 사양(Installation Requirement)을 제시하는 경우 해당 기준과의 대조 검토가 필요합니다.

장비 Operating 조건 또는 설치 환경(인접 장비 증설, 공조·유틸리티 변경 등) 변동 시에도 진동 수준이 달라질 수 있으므로, 환경 변화 시 재측정을 권장드립니다.

측정 데이터

Passive

Vertical (Z-axis)

Z-axis — Autospectrum

Z-axis — VC Curves

Left to Right (X-axis)

X-axis — Autospectrum

X-axis — VC Curves

Front to Back (Y-axis)

Y-axis — Autospectrum

Y-axis — VC Curves

Active

Vertical (Z-axis)

Z-axis — Autospectrum

Z-axis — VC Curves

Left to Right (X-axis)

X-axis — Autospectrum

X-axis — VC Curves

Front to Back (Y-axis)

Y-axis — Autospectrum

Y-axis — VC Curves

설치 사진

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭¹
μm/s (μin/s)
세부 크기²
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자 현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1-3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1-0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

¹ 8~80Hz(VC-A 및 VC-B) 또는 1~80Hz(VC-C~VC-G) 주파수에 대한 1/3 옥타브 대역에서 측정됨.

² 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 경우 폭, 의료 및 제약 연구의 경우 입자(세포) 크기 등을 나타냅니다. 이는 프로브 기술, AFM 및 나노기술과 관련된 이미징에 해당합니다.

이 표에 제공된 정보는 참고용입니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 응용 분야와 진동 요구 사항에 대해 잘 알고 있는 전문가의 조언을 구하는 것이 좋습니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-T Series
작성일09-08-2026
태그
DVIA-T Series
Installation Report
KimTechnix
Keyence
VK-X4000
Laser Scanning Confocal Microscope
DVIA-TD45
260616R5