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설치 보고서
DVIA-M Series
02-24-2025

Tier-1 Semiconductor Onyang ZEISS Crossbeam 550 FIB-SEM DVIA-M1000 (240726R3) Installation Report

DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Onyang
ZEISS
Crossbeam 550
FIB-SEM
DVIA-M1000
DVIA-ML1000
240726R3

개요

Tier-1 Semiconductor 온양 캠퍼스에 설치된 DVIA-ML1000 튜닝 및 진동측정을 진행하였습니다.

장비 Turned off 상태로 튜닝 및 진동 측정을 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-M1000

시리얼 넘버: 240726R3

담당 엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원, 서종화

측정 일자

2025년 02월 12일

튜닝 일자

N/A

보고서 작성일

2025년 02월 24일

튜닝 횟수

N/A

End User

Tier-1 Semiconductor

설치 현장

대한민국 온양 — 4라인 연구실

장비 상태

장비 설치 및 Turned off

장비

Manufacturer: ZEISS

Equipment: FIB-SEM

Model: Crossbeam 550

측정 장비

9.1) Data Physics DAQ

Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

Software: SignalCalc ACE

9.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 설정

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

진동 사양

결론

모든 방향에서 진동 스펙을 만족합니다.

측정 요약

측정 장소상태방향FloorDVIA-M1000
Tier-1 Semiconductor 온양 4라인 연구실
1. Floor
2. DVIA-M1000
장비 설치 및 Turned offVerticalVC-C @ 12.5 HzVC-G @ 12.5 Hz
Left to RightVC-D @ 20 HzVC-G @ 20 Hz
Front to BackVC-D @ 1 HzVC-F @ 1 Hz

UI 프로그램 측정 데이터

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

Front to Back Transmissibility

장비 사진

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
상세 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미량 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭의 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자 현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 최고 정밀 시스템에 적합.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8-80 Hz의 1/3 옥타브 밴드에서, VC-C부터 VC-G는 1-80 Hz에서 측정됩니다.

2. 상세 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 선폭 또는 의료 연구의 입자 크기를 의미합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일02-24-2025
태그
DVIA-M Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Onyang
ZEISS
Crossbeam 550
FIB-SEM
DVIA-M1000
DVIA-ML1000
240726R3