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설치 보고서
DVIA-P Series
12-23-2025

Tier-1 Semiconductor Icheon Campus R3 Applied Materials PROVision 10 DVIA-P7000 Installation Report

DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Applied Materials
PROVision 10

개요

Tier-1 Semiconductor 이천 R3에 설치된 DVIA-P7000 상부 장비 내부에 설치된 IDE 제진대의 ATR(Self Test)시 몇몇 항목에서 Fail이 발생하여, 사내 테스트 후 방문 점검 진행하였습니다.

DVIA-P7000 튜닝 및 진동 측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-P7000

시리얼 넘버: 240502R3

엔지니어

대일시스템 개발팀 정성윤

점검 날짜

2025년 12월 23일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 이천캠퍼스 R3

최종 사용자

Tier-1 Semiconductor 이천 M10B R3 Line

고객사 장비

Manufacturer: Applied Materials

Equipment: 3E eBeam Metrology

Model: PROVision 10

장비 스펙

장비 상태

장비 제진대 위에 안착 및 Turned on/IDLE

진동 측정 장비

10.1) Brüel & Kjær LAN-XI DAQ Type 3050 DAQ

Hardware: B&K Front End Type 3050-A-040

Software: B&K Pulse Labshop 22 Version

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Averaging: Spectrum Averaging

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Overlap: Max

결론

DVIA-P7000 Active On 시, 모든 방향에서 Spec을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소진동 스펙방향FloorDVIA-P7000FloorDVIA-P7000
Tier-1 Semiconductor 이천 R3
1. Floor
2. DVIA-P7000
VC-DVerticalVC-D @ 63 HzVC-E @ 14 HzPASSPASS
Tier-1 Semiconductor 이천 R3
1. Floor
2. DVIA-P7000
VC-DLeft to RightVC-C @ 14 HzVC-D @ 14 HzFAILPASS
Tier-1 Semiconductor 이천 R3
1. Floor
2. DVIA-P7000
VC-DFront to BackVC-D @ 40 HzVC-E @ 14 HzPASSPASS

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospecturm

Front to Back Transmissibility

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일12-23-2025
태그
DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Applied Materials
PROVision 10