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설치 보고서
10-13-2026

AIPIN STM DVIA-ML1000 재튜닝 설치 보고서

DVIA-M Series
Installation Report
National Center for Nanoscience and Technology
Aipin Instrument Technology
AIPIN STM
DVIA-ML1000
221024R3

개요

고객사가 제진대 불안정을 보고함에 따라, 베이징의 National Center for Nanoscience and Technology에서 DVIA-M1000 (S/N 221024R3)에 대해 재튜닝을 수행하고, 이후 진동 측정을 진행하였습니다. 진동은 AIPIN STM이 IDLE 상태일 때 바닥과 제진대에서 측정하였습니다. 결과는 각 축별로 Autospectrum과 VC Curves로 표시하였으며, 진동 기준(VC)의 참고 표를 함께 제공합니다.

제진대 정보

모델: DVIA-ML1000

시리얼 넘버: 221024R3

엔지니어

김태헌 · 대일시스템

튜닝 날짜

2026.10.13

End User

National Center for Nanoscience and Technology

튜닝 횟수

5th (re-tuning)

설치 장소

Beijing

고객사 장비

제조사: Aipin Instrument Technology

장비: STM

모델: AIPIN STM

진동 스펙

측정 당시 제조사나 최종 사용자로부터 장착 장비의 진동 스펙을 제공받지 못하였습니다. 따라서 본 보고서에서는 측정된 진동 수준만 제시하며, PASS/FAIL 판정은 하지 않습니다.

장비 상태

장착된 UHV STM 시스템은 제진대 밖 구조물(바닥 설치 프레임, 전달 로드, 호스 및 케이블)과 기계적으로 연결되어 있어, 측정 당시 제진대는 완전한 격리 상태가 아니었습니다.

Tuning Request

결론

수평축의 12–16 Hz 밴드를 제외한 모든 축에서 바닥 진동이 감쇠되었습니다. 해당 12–16 Hz 밴드에서는 제진대 수준이 바닥보다 높게 나타났습니다. 제진대는 Vertical에서 VC-G, Left to Right와 Front to Back에서 VC-E를 달성하였습니다.

이러한 수평 증폭은 장착 시스템과 주변 구조물 사이 기계적 연결이 제진대를 우회(바이패스)하기 때문으로 판단됩니다 (10절).

진동 스펙이 제공되지 않았으므로 (9절), 최종 평가는 장비 제조사 또는 최종 사용자에게 위임됩니다.

측정 데이터 요약

측정 위치측정 축바닥DVIA-ML1000
1. 바닥<br>2. DVIA-ML1000VerticalVC-CVC-G
Left to RightVC-DVC-E
Front to BackVC-DVC-E

UI 프로그램으로 취득한 측정 데이터

Vertical

Vertical — Autospectrum

Vertical — VC Curves

Left to Right

Left to Right — Autospectrum

Left to Right — VC Curves

Front to Back

Front to Back — Autospectrum

Front to Back — VC Curves

설치 사진

고객사 장비

참고자료

아래 표는 IEST-RP-CC012.2 기준의 진동 수준 분류입니다.

기준 곡선설명진폭
µm/s (µin/s)
세부 크기
µm
Workshop (ISO)뚜렷하게 인지되는 진동. 작업장 및 비민감 영역에 적합합니다.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 영역에 적합합니다.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 영역에 적합합니다. 일반적으로 컴퓨터 장비, 병원 회복실, 반도체 프로브 테스트 장비 및 40배 미만 현미경에 적합합니다.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)인지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수술실, 100배 현미경 및 기타 저감도 장비에 적합합니다.100 (4,000)25
VC-A대부분의 경우 400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울, 근접 및 투영 정렬기 등에 적합합니다.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭까지의 검사 및 리소그래피 장비(스테퍼 포함)에 적합합니다.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 세부 크기까지의 리소그래피 및 검사 장비(중간 감도 전자 현미경 포함)에 적합한 표준입니다. TFT-LCD 스테퍼/스캐너 공정.12.5 (500)1-3
VC-D대부분의 경우 많은 전자 현미경(SEM 및 TEM) 및 E-Beam 시스템을 포함한 까다로운 장비에 적합합니다.6.25 (250)0.1-0.3
VC-E달성하기 어려운 기준입니다. 나노미터 스케일에서 작동하는 장거리, 레이저 기반, 소형 타겟 시스템, E-Beam 리소그래피 시스템 및 특별한 동적 안정성이 필요한 기타 시스템을 포함한 가장 까다로운 민감 시스템에 적합한 것으로 가정합니다.3.12 (125)<0.1
VC-F매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.1.56 (62.5)N/A
VC-G매우 조용한 연구 공간에 적합합니다. 대부분의 경우, 특히 클린룸에서 달성하기 어렵습니다. 설계 기준으로 사용하지 않고 평가용으로만 권장됩니다.0.78 (31.3)N/A

¹ 8–80 Hz(VC-A, VC-B) 또는 1–80 Hz(VC-C~VC-G) 주파수 구간의 1/3 옥타브 대역에서 측정.

² 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조 시 폭, 의료·제약 연구 시 입자(세포) 크기 등을 나타내며, 프로브 기술·AFM·나노기술 관련 이미징에는 해당하지 않습니다.

이 표의 정보는 참고용으로 제시됩니다. 대부분의 경우 장비 및 공정의 적용과 진동 요구 사항에 정통한 전문가의 조언을 구할 것을 권장합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-M Series
작성일10-13-2026
태그
DVIA-M Series
Installation Report
National Center for Nanoscience and Technology
Aipin Instrument Technology
AIPIN STM
DVIA-ML1000
221024R3