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설치 보고서
DVIA-ULF Series
01-07-2026

Hanyang University ZEISS Sigma 300 DVIA-UB700 Inspection Report

DVIA-ULF Series
Inspection Report
Hanyang University
ZEISS
Sigma 300
DVIA-UB700
221024R5

작성자

엔지니어: 이채원

점검 날짜: 26.01.05

보고서 작성일: 26.01.07

개요

한양대학교 자연과학관(507동) 112호에 설치된 DVIA-UB700 점검 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 Turned on/IDLE 상태로 점검 및 진동측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-UB700

시리얼 넘버: 221024R5

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

점검 날짜

2026년 01월 05일

설치 장소

한양대학교 자연과학관 112호

End User

한양대학교

고객사 장비

Manufacturer: ZEISS

Equipment: FE-SEM

Model: Sigma 300

장비 스펙

장비상태

장비 설치 및 Turned on/IDLE

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

최초 점검 시 Active 모드에서 발진 현상이 발생하였습니다. Left to Right 및 Front to Back 축에 LPF를 추가 적용하여 발진을 제거하였습니다.

최종 점검 결과, 제진대가 안정적으로 작동하고 있음을 확인하였으며, 모든 방향에서 진동 스펙을 만족합니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향측정값 — Floor측정값 — DVIA-UB700결과 — Floor결과 — DVIA-UB700
한양대학교 자연과학관 112호
1. Floor
2. DVIA-UB700
Turned on/IDLEVerticalVC-C
@ 31.5 Hz
VC-G
@ 31.5 Hz
PASSPASS
Left to RightVC-F
@ 50 Hz
VC-G
@ 50 Hz
PASSPASS
Front to BackVC-E
@ 20 Hz
VC-F
@ 20 Hz
PASSPASS

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospecturm

Front to Back Transmissibility

설치 사진

참고자료

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
작업장 (ISO)명확하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)해당 없음
사무실 (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)해당 없음
주거 지역 (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
수술실 (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭의 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자 현미경(SEM/TEM) 포함 고정밀 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일의 E-Beam 리소그래피 등 최고 정밀 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.1.56 (62.5)해당 없음
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.0.78 (31.25)해당 없음

*참고:*

- 8-80 Hz (VC-A/B) 또는 1-80 Hz (VC-C ~ VC-G)에서 1/3 옥타브 밴드로 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 선폭 또는 의료 연구의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ULF Series
작성일01-07-2026
태그
DVIA-ULF Series
Inspection Report
Hanyang University
ZEISS
Sigma 300
DVIA-UB700
221024R5