설치 보고서
DVIA-P Series
05-21-2026
Sungkyunkwan University Raith EBPG5150 DVIA-P4000 Inspection Report
DVIA-P Series
Inspection Report
Sungkyunkwan University
Raith
EBPG5150
DVIA-P4000
Contents
개요
DVIA-P4000 사용 중 Caution VIB LED가 점등되어 점검 요청받음
점검 중 Z축에서 발진 현상이 발생하고 있음을 확인
담당자로부터 이전에 장비 부품 교체 작업이 있었다고 전달받음
새로운 공진봉이 추가되어 발진 현상 발생으로 추측
Feedback, Feedforward 재 튜닝 진행완료(성능 양호)
시스템 정보
모델: DVIA-P4000
시리얼 넘버: 220714R4
엔지니어
Youngha Lee from DAEIL SYSTEMS
Prepared by: Youngha Lee (튜닝일 23.11.28, 보고서 작성일 23.11.30, Date of business trip: 17.12.27~17.12.29)
점검 일자
November 28, 2023
설치 위치
Sungkyunkwan University Research Building 3F C/R
장비
Raith EBPG5150
진동 결과 요약
| 측정 지점 | Z축(수직) 1-10 Hz | Z축(수직) 12.5-80 Hz | X축(좌-우) 1-10 Hz | X축(좌-우) 12.5-80 Hz | Y축(전-후) 1-10 Hz | Y축(전-후) 10-80 Hz |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Floor | D | A | F | E | E | D |
| Active | D | C | F | D | E | D |
장비 Turn off 불가 상황으로 인해 고주파 대역의 Top 측정값이 다소 높게 출력됨
데이터 및 이미지
Z axis Transmissibility Graph
X axis Transmissibility Graph
Y axis Transmissibility Graph
Z-axis (Vertical) VC curves
X-axis (Left to Right) VC curves
Y-axis (Front to Back) VC curves
참조
참고:
- As measured in one-third octave bands over 8-80 Hz (VC-A/B) or 1-80 Hz (VC-C through VC-G).
- Detail size refers to width in microelectronics fabrication or particle size in medical research.
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케이스 스터디 정보
카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일05-21-2026
태그
DVIA-P Series
Inspection Report
Sungkyunkwan University
Raith
EBPG5150
DVIA-P4000
