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설치 보고서
DVIA-ULF Series
11-22-2023

ARCHE Semilab AFM-2000 DVIA-UB350 (220621R1) Inspection Report

DVIA-ULF Series
Inspection Report
ARCHE
Semilab
AFM-2000
DVIA-UB350
220621R1

Prepared for

ARCHE

Prepared by

Engineer: Youngha Lee Tuning date: 23.11.21 Report written date: 23.11.22Date of business trip : 17.12.27~17.12.29

개요

The DVIA-UB350 active vibration isolation platform is appropriately installed and functioning as intended.

시스템 정보

Model: DVIA-UB350

Serial Number: 220621R1

Engineer: Youngha Lee, from DAEIL SYSTEMS

Tuning Date: November 21, 2023

Location: ARCHE, 화성시 안녕길 147

Equipment: AFM-2000

진동 측정 결과 요약

평상 시 진동 측정

Measurement PointZ-axis (Vertical) 1–10 HzZ-axis (Vertical) 12.5–80 HzX-axis (Left to Right) 1–10 HzX-axis (Left to Right) 12.5–80 HzY-axis (Front to Back) 1–10 HzY-axis (Front to Back) 10–80 Hz
FloorDCCCDD
ActiveGGFGGG

AFM 작동 시 진동 측정

Measurement PointZ-axis (Vertical) 1–10 HzZ-axis (Vertical) 12.5–80 HzX-axis (Left to Right) 1–10 HzX-axis (Left to Right) 12.5–80 HzY-axis (Front to Back) 1–10 HzY-axis (Front to Back) 10–80 Hz
FloorECDFCD
ActiveGGFEFG

데이터 및 이미지

Z-axis (Vertical) Transmissibility

Z-axis (Vertical) VC-Curve graph(평상시)

Z-axis (Vertical) VC-Curve graph (AFM 작동 시)

제진대 하부의 진동 레벨은 VC-G로 매우 좋은 상태입니다.

AFM작동 시에도 진동레벨에는 큰 변화가 없습니다.

X-axis (Left to Right) Transmissibility

X-axis (Vertical) VC-Curve graph(평상시)

X-axis (Vertical) VC-Curve graph (AFM 작동 시)

제진대 하부의 진동 레벨은 VC-F로 매우 좋은 상태입니다.

AFM작동 시 60Hz에서 전기 Noise로 의심되는 값이 출력되었습니다.

피크 형태의 진동으로 이러한 형태는 일반적으로 전기 Noise입니다.

Y-axis (Front to Back) Transmissibility

Y-axis (Vertical) VC-Curve graph(평상시)

Y-axis (Vertical) VC-Curve graph (AFM 작동 시)

제진대 하부의 진동 레벨은 VC-G로 매우 좋은 상태입니다.

AFM작동 시에도 진동레벨에는 큰 변화가 없습니다.

참고자료

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
Detail Size
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지되는 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않음. 수술실, 최대 100배 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A최대 400배 광학 현미경, 마이크로밸런스, 광학 밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B검사 및 리소그래피 장비(선폭 3μm)에 적합.25 (1,000)3
VC-C최대 1000배 광학 현미경, 선폭 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-DSEM/TEM 등 고난도 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 최고 난도 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장하지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장하지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8–80 Hz의 1/3 옥타브 밴드에서, VC-C–VC-G는 1–80 Hz에서 측정합니다.

2. Detail size는 전자소자 제조의 선폭 또는 의학 연구의 입자 크기를 가리킵니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ULF Series
작성일11-22-2023
태그
DVIA-ULF Series
Inspection Report
ARCHE
Semilab
AFM-2000
DVIA-UB350
220621R1