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설치 보고서
DVIA-ULF Series
11-21-2023

ARCHE Semilab AFM-2000 DVIA-UB350 Inspection Report

DVIA-ULF Series
Inspection Report
ARCHE
Semilab
AFM

개요

DVIA-UB350 능동형 진동 절연 플랫폼이 적절하게 설치되어 의도한 대로 작동하고 있습니다.

시스템 정보

모델: DVIA-UB350

시리얼 번호: 220621R1

엔지니어: Youngha Lee, from DAEIL SYSTEMS

튜닝 날짜: 2023년 11월 21일

위치: ARCHE, 경기도 화성시 병점구 안녕길 147 (안녕동)

장비: AFM-2000

진동 측정 결과 요약

평상 시 진동 측정

측정 지점Z축 (수직) 1–10 HzZ축 (수직) 12.5–80 HzX축 (좌우) 1–10 HzX축 (좌우) 12.5–80 HzY축 (전후) 1–10 HzY축 (전후) 10–80 Hz
바닥DCCCDD
Active (DVIA-UB350)GGFGGG

AFM 작동 시 진동 측정

측정 지점Z축 (수직) 1–10 HzZ축 (수직) 12.5–80 HzX축 (좌우) 1–10 HzX축 (좌우) 12.5–80 HzY축 (전후) 1–10 HzY축 (전후) 10–80 Hz
바닥ECDFCD
Active (DVIA-UB350)GGFEFG

데이터 및 이미지

Z축 (수직) 전달률

Z축 (수직) VC 곡선 — 평상시

Z축 (수직) VC 곡선 — AFM 작동 시

제진대 하부의 진동 레벨은 VC-G로 매우 좋은 상태입니다. AFM 작동 시에도 진동레벨에는 큰 변화가 없습니다.

X축 (좌우) 전달률

X축 (좌우) VC 곡선 — 평상시

X축 (좌우) VC 곡선 — AFM 작동 시

제진대 하부의 진동 레벨은 VC-F로 매우 좋은 상태입니다. AFM 작동 시 60Hz에서 전기 Noise로 의심되는 값이 출력되었습니다. 피크 형태의 진동으로 이러한 형태는 일반적으로 전기 Noise입니다.

Y축 (전후) 전달률

Y축 (전후) VC 곡선 — 평상시

Y축 (전후) VC 곡선 — AFM 작동 시

제진대 하부의 진동 레벨은 VC-G로 매우 좋은 상태입니다. AFM 작동 시에도 진동레벨에는 큰 변화가 없습니다.

참조

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
작업장 (ISO)명확하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)해당 없음
사무실 (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)해당 없음
주거 지역 (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
수술실 (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배 광학 현미경, 마이크로 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭의 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자 현미경(SEM/TEM) 포함 고정밀 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일의 E-Beam 리소그래피 등 최고 정밀 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.1.56 (62.5)해당 없음
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로 권장되지 않음.0.78 (31.25)해당 없음

*참고:*

- 8-80 Hz (VC-A/B) 또는 1-80 Hz (VC-C ~ VC-G)에서 1/3 옥타브 밴드로 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조의 선폭 또는 의료 연구의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ULF Series
작성일11-21-2023
태그
DVIA-ULF Series
Inspection Report
ARCHE
Semilab
AFM