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설치 보고서
DVIA-P Series
06-28-2023

Tier-1 Semiconductor Pyeongtaek P3 ADVANTEST E5610 DVIA-P4000 Installation Report

DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
ADVANTEST
E5610

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-P4000

시리얼 넘버: 220617R2

엔지니어

Youngha Lee from DAEIL SYSTEMS

튜닝 날짜

2023년 06월 28일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 평택 P3 라인

고객사 장비

Manufacturer: ADVANTEST

Equipment: DR-SEM

Model: E5610

튜닝 횟수

1회차

진동 기준

VC-D

측정 요약

측정 포인트Z축(수직)<br>1-10 HzZ축(수직)<br>10-80 HzX축(좌우)<br>1-10 HzX축(좌우)<br>10-80 HzY축(전후)<br>1-10 HzY축(전후)<br>10-80 Hz
FloorFDCDDD
ActiveGFFFGG

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Transmissibility

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일06-28-2023
태그
DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
ADVANTEST
E5610