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설치 보고서
DVIA-ULF Series
11-30-2022

Tier-1 Semiconductor Icheon Hitachi FE SEM DVIA-UB1000 Installation Report

DVIA-U Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Icheon
Hitachi
FE SEM
DVIA-UB1000
180305R3

준비 대상

Tier-1 Semiconductor

작성 정보

Engineer: Seounghoon Cheon

Tuning date: 22.11.29

Report written date: 22.11.30

Date of business trip : 17.12.27~17.12.29

개요

The DVIA-UB700 active vibration isolation platform is appropriately installed and functioning as intended.

시스템 정보

모델: DVIA-UB1000

시리얼 번호: 180305R3

엔지니어

Seounghoon Cheon, from DAEIL SYSTEMS

튜닝 일자

November 29, 2022

설치 위치

Tier-1 Semiconductor, icheon-si

장비

Hitachi FE SEM Equipment

측정 장비

7.1) Data Physics

Hardware: Quattro, Serial Number: 22436

Software: SignalCalc ACE

7.2) Measurement Setting

-Bandwidth: 0 – 80 Hz

-Lines: 800

-Window: Hanning

-Averaging: FFT Spectrum Averaging

-Engineering Units: m/s^2

7.3) Sensor

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 결과 요약

측정 지점Z축(수직) 1-10 HzZ축(수직) 12.5-80 HzX축(좌우) 1-10 HzX축(좌우) 12.5-80 HzY축(전후) 1-10 HzY축(전후) 10-80 Hz
FloorCBCBCB
ActiveFEEEEE

데이터 및 이미지 (장비 전원 꺼짐)

바닥 Z축(수직) VC 곡선

액티브 Z축(수직) VC 곡선

Z축(수직) 전달률

바닥 X축(좌우) VC 곡선

액티브 X축(좌우) VC 곡선

X축(좌우) 전달률

바닥 Y축(전후) VC 곡선

액티브 Y축(전후) VC 곡선

Y축(전후) 전달률

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ULF Series
작성일11-30-2022
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DVIA-U Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
Icheon
Hitachi
FE SEM
DVIA-UB1000
180305R3