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설치 보고서
DVIA-T Series
11-11-2025

Olympus OLS4100 DVIA-T67 (170718R8) Tier-1 Semiconductor Cheongju Installation Report — November 2025

DVIA-T Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
LNSTECH
Olympus
OLS4100
DVIA-T67
170718R8

고객사

엘앤에스텍

작성자

엔지니어: 이채원

보고서 작성일

2025년 11월 11일

개요

티어원 반도체 청주 1캠퍼스 P&T6 4F 클린룸 K16에 설치된 DVIA-T67 점검 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 설치 및 Turned on/IDLE 상태로 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-T67

시리얼 넘버: 170718R8

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

측정 날짜

2025년 11월 03일

설치 장소

티어원 반도체 청주 1캠퍼스 P&T6 4F 클린룸 K16

End User

티어원 반도체

고객사 장비

Manufacturer: Olympus

Equipment: 3D Measuring Razer Microscope

Model: OLS4100

장비 스펙

-

장비상태

장비 설치 및 Turned on/IDLE

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

모든 방향에서 2–10 Hz 구간에서는 약 90%의 제진 성능을 보이며, 10 Hz 이후 구간에서는 95% 이상의 제진 성능이 나타나고 있습니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향바닥진동DVIA-T67
티어원 반도체 청주 1캠퍼스P&T6 4F 클린룸 K16
1. 바닥진동
2. DVIA-T67
Turned on/IDLEVerticalVC-A @ 40 HzVC-G @ 40 Hz
Left to RightResidential Area @ 6.3 HzVC-D @ 6.3 Hz
Front to BackOperating Theatre @ 6.3 HzVC-C @ 6.3 Hz

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospecturm

Front to Back Transmissibility

참고자료

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-T Series
작성일11-11-2025
태그
DVIA-T Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
LNSTECH
Olympus
OLS4100
DVIA-T67
170718R8