BRUKER AFM MULTIMODE

DVIA-T Series

Installation Report

Bruker

액티브 진동 제어 시스템

테스트 결과 요약 --- 주파수 범위 | 1 - 80 Hz 바닥 진동 사양 | VC-D 측정 방향 | Z축(수직) | X축(좌우) | Y축(전후) 바닥 진동 | 실패 | 실패 | 실패 액티브 진동 제어 시스템 위 진동 | 통과 | 통과 | 통과

측정된 수직 바닥 진동은 3.15 Hz 및 8 Hz~50 Hz에서 바닥 진동 사양을 초과했습니다. DVIA-T45 액티브 진동 제어 시스템이 수직 바닥 진동을 VC-B에서 VC-F로 감소시켰습니다.

측정된 X축 바닥 진동은 5 Hz에서 바닥 진동 사양을 초과했습니다. DVIA-T45 액티브 진동 제어 시스템이 X축 바닥 진동을 VC-C에서 VC-F로 감소시켰습니다.

측정된 Y축 바닥 진동은 2.5 Hz 및 12.5 Hz에서 바닥 진동 사양을 초과했습니다. DVIA-T45 액티브 진동 제어 시스템이 Y축 바닥 진동을 VC-C에서 VC-F로 감소시켰습니다.

일반 진동 기준

기준 곡선	설명	진폭 μm/s (µin/s)	세부 크기 μm
Workshop (ISO)	뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.	800 (32,000)	N/A
Office (ISO)	감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.	400 (16,000)	N/A
Residential Area (ISO)	거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.	200 (8,000)	75
Operating Theatre (ISO)	감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.	100 (4,000)	25
VC-A	400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.	50 (2,000)	8
VC-B	3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.	25 (1,000)	3
VC-C	1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.	12.5 (500)	1 - 3
VC-D	전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.	6.25 (250)	0.1 - 0.3
VC-E	나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.	3.12 (125)	< 0.1
VC-F	극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.	1.56 (62.5)	N/A
VC-G	극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.	0.78 (31.25)	N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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설치 보고서

시리즈DVIA-T Series

작성일04-11-2022

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