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설치 보고서
DVIA-P Series
10-28-2025

Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility Hwaseong NRD Line Bruker FP-III DVIA-P4000 Installation Report

DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility
Bruker
FP-III

개요

Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 화성사업장 NRD Line 3F 51bay에 설치된 DVIA-P4000 점검 진행하였습니다.

최초 점검 시, 제진대가 정상작동중임을 확인하였습니다.

제진대 기능상 문제는 없었지만 고객사 요청에 의해 재튜닝 진행하였습니다.

장비 설치 및 IDLE 상태로 점검 및 진동측정 진행하였습니다. 장비 IDLE상태의 진동은 튜닝 및 진동측정에 영향을 줄 수 있습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

진동 제어 시스템 정보

모델: DVIA-P4000

시리얼 넘버: 039887B

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

점검 날짜

2025년 10월 28일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 화성사업장 NRD Line 3F 51bay

End User

Tier-1 Semiconductor

고객사 장비

Manufacturer: Bruker

Equipment: 3rd Generation Femto-Pulse Laser Repair System

Model: FP-III

장비 스펙

VC-E

장비상태

장비 설치 및 IDLE

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

- PCB Accelerometer

- Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

제진대 튜닝 전과 비교하여 전체적인 성능이 향상되었습니다.

측정 결과, 모든 방향에서 일부 구간이 SPEC Out으로 나타났으며, 이는 장비의 IDLE 상태에서 발생한 진동으로 추정됩니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향진동 스펙측정값측정 결과
------------Before TuningAfter Tuning
Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility 화성사업장
NRD Line 3F 51bay
1. Before tuning
2. After tuning
장비 설치/IDLEVerticalVC-EVC-B
@ 80 Hz
VC-C
@ 80 Hz
Left to RightVC-C
@ 31.5 Hz
VC-C
@ 31.5 Hz
Front to BackVC-D
@ 16 Hz
VC-E
@ 16 Hz

데이터 및 이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

참고자료

Generic Vibration Criteria

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
Detail Size
μm
Workshop (ISO)Distinctly perceptible vibration. Appropriate to workshops and non-sensitive areas.800 (32,000)N/A
Office (ISO)Perceptible vibration. Appropriate to offices and non-sensitive areas.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)Barely perceptible vibration. Appropriate to sleep areas in most instances.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)Vibration not perceptible. Suitable for surgical suites, microscopes to 100x.100 (4,000)25
VC-AAdequate for optical microscopes to 400x, microbalances, optical balances.50 (2,000)8
VC-BAppropriate for inspection and lithography equipment to 3μm line widths.25 (1,000)3
VC-CAppropriate for optical microscopes to 1000x, lithography equipment to 1μm.12.5 (500)1 - 3
VC-DSuitable for demanding equipment including electron microscopes (SEMs/TEMs).6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-EFor the most demanding systems including E-Beam lithography at nanometer scales.3.12 (125)< 0.1
VC-FFor extremely quiet research spaces. Not recommended as design criterion.1.56 (62.5)N/A
VC-GFor extremely quiet research spaces. Not recommended as design criterion.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8-80Hz 1/3 옥타브 대역에서 측정하고, VC-C부터 VC-G는 1-80Hz까지 측정합니다.

2. Detail size는 반도체 제조 공정의 라인 폭 또는 의학 연구의 입자 크기 등을 의미합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일10-28-2025
태그
DVIA-P Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor Fabrication Facility
Bruker
FP-III