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설치 보고서
DVIA-ULF Series
11-04-2025

Tier-1 Semiconductor 2F Clean Booth DVIA-ULF700 (250708R1-1) Installation Report

DVIA-ULF Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
DVIA-ULF700
250708R1-1

개요

Tier-1 Semiconductor 2F 클린부스에 설치된 DVIA-ULF700 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

장비 설치 및 Turned on/IDLE 상태로 튜닝 및 진동측정 진행하였습니다.

제진대 상부에 장비와 연결된 로터리 펌프가 작동중이었습니다. 이는 튜닝 및 진동측정에 영향을 줄 수 있습니다.

Data를 VC Curve로 표기 후 진동 수준에 대한 Reference 자료를 제공합니다.

제진대

모델: DVIA-ULF700

시리얼 넘버: 250708R1-1

엔지니어

대일시스템 필드엔지니어 이채원

측정 날짜

2025년 11월 04일

설치 장소

Tier-1 Semiconductor 2F 클린부스

최종 사용자

Tier-1 Semiconductor

고객사 장비

Manufacturer: Tier-1 Semiconductor

Equipment: N/A

Model: Self-made

장비 스펙

N/A

장비상태

장비 설치 및 Turned on/IDLE

진동 측정 장비

10.1) Data Physics DAQ

-Hardware: QUATTRO, Serial Number: 22436

-Software: SignalCalc ACE

10.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

진동 측정 Setup

F Span: 200 Hz

Lines: 3200

Engineering Units: m/s

Window: Hanning

Averaging: FFT Spectrum Averaging

Averaging mode: Exponential, 40

결론

로터리 펌프가 영향을 주는 특정 Hz 제외, VC-F - VC-G의 진동이 측정됩니다.

측정 데이터

측정 장소상태방향바닥진동DVIA-ULF700
Tier-1 Semiconductor 2F 클린부스
1. 바닥진동
2. DVIA-ULF700
Turned on/IDLEVerticalResidential Area
@ 50 Hz
VC-F
@ 50 Hz
Left to RightVC-C
@ 50 Hz
VC-G
@ 50 Hz
Front to BackVC-B
@ 50 Hz
VC-G
@ 50 Hz

데이터&이미지

Vertical VC Curves

Vertical Autospectrum

Vertical Transmissibility

Left to Right VC Curves

Left to Right Autospectrum

Left to Right Transmissibility

Front to Back VC Curves

Front to Back Autospectrum

Front to Back Transmissibility

15. 참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래픽 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- 1. VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 2. 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미합니다.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-ULF Series
작성일11-04-2025
태그
DVIA-ULF Series
Installation Report
Tier-1 Semiconductor
DVIA-ULF700
250708R1-1