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설치 보고서
DVIA-T Series
08-18-2023

SAMSUNG SDI Cheongju Cleanroom KEYENCE VK-X3000 DVIA-T45 (230417R5) Service & Vibration Report

DVIA-T Series
Installation Report
SAMSUNG SDI
KEYENCE
VK-X3000
DVIA-T45
230417R5

개요

DVIA-T45의 작동상태가 불량하여 제품 성능점검을 요청 받아 출장점검 진행.

작동의 오류가 있는 상태로 제품 재부팅 이후 정상 작동 확인 및 진동 측정.

추가로, 석정반의 진동 측정을 요청하여 측정 수행.

시스템 정보

모델: DVIA-T45(90kg)

시리얼 넘버: 230417R5

엔지니어

개발팀 사원 이영하 from DAEIL SYSTEMS

튜닝 일자

2023년 8월 18일

측정 위치

SAMSUNG SDI 클린룸, 청주사업장

장비

VK-X3000, keyence

Prepared by

Engineer: Youngha Lee

Tuning date: 23.08.18

Report written date: 23.08.23

Date of business trip: 17.12.27~17.12.29

진동 측정 결과 요약

평상 시 진동 상태 (Normal)

측정 위치Z 1–10 HzZ 12.5–80 HzX 1–10 HzX 12.5–80 HzY 1–10 HzY 12.5–80 Hz
FloorCBECDD
TableCABBCA
ActiveFEFGEG

장비 주변 바닥에 진동을 부여한 경우

측정 위치Z 1–10 HzZ 12.5–80 HzX 1–10 HzX 12.5–80 HzY 1–10 HzY 12.5–80 Hz
FloorABDCDD
TableAA+BACA
ActiveDEFGFF

데이터 및 이미지

UI Program Transmissibility

Z축(수직)

X축(좌우)

Y축(전후)

UI Program Graph를 통해 5Hz에서 -24dB ~ -26dB, 10Hz에서 -29dB ~ -34dB의 진동 감쇠가 이루어져 정상 작동을 확인할 수 있다.

DVIA-T45 진동 측정 — 평상 시

청색 선: 제진대 상판(키엔스 장비가 올라간 부분)의 진동

적색 선: 제진대가 올려진 Table의 진동

녹색 선: 바닥 진동(Table아래)

Z축(수직)

X축(좌우)

Y축(전후)

Transmissibility Graph

장비 주변 바닥에 진동 부여

청색 선: 제진대 상판(키엔스 장비가 올라간 부분)의 진동

적색 선: 제진대가 올려진 Table의 진동

녹색 선: 바닥 진동(Table아래)

Z축(수직)

X축(좌우)

Y축(전후)

Transmissibility Graph

진동을 부여한 상태와 평상 시 상태의 진동 전달률(Transmissibility)를 비교해 봤을 때 차이가 거의 없다. 따라서, 장비의 정상 작동을 확인할 수 있다.

석정반 Vibration measurement

청색 선: 석정반 상판의 진동

적색 선: 바닥 진동

Z축(수직)

X축(좌우)

Y축(전후)

Transmissibility Graph

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-T Series
작성일08-18-2023
태그
DVIA-T Series
Installation Report
SAMSUNG SDI
KEYENCE
VK-X3000
DVIA-T45
230417R5