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설치 보고서
DVIA-P Series
01-09-2023

Sungkyunkwan University JEOL JBX-8100FX DVIA-P2200 (220509R3) Installation Report

DVIA-P Series
Installation Report
Sungkyunkwan University
JEOL
JBX-8100FX
DVIA-P2200

개요

DVIA-P2200 액티브 제진 플랫폼이 적절히 설치되어 의도한 대로 작동함.

시스템 정보

모델: DVIA-P2200

시리얼 넘버: 220509R3

엔지니어

Hosang Yu, Youngha Lee from DAEIL SYSTEMS

Tuning date: 23.01.09

Report written date: 23.01.12

Date of business trip : 17.12.27~17.12.29

튜닝 일자

January 09, 2023

설치 위치

Sungkyunkwan University Research Building

장비

JEOL JBX-8100FX (E-Beam Lithography)

진동 결과 요약

측정 지점Z축(수직) 1-10 HzZ축(수직) 12.5-80 HzX축(좌-우) 1-10 HzX축(좌-우) 12.5-80 HzY축(전-후) 1-10 HzY축(전-후) 10-80 Hz
FloorCA+ECFC
ActiveEDFDFE

데이터 및 이미지

Z-axis (Vertical) VC curves

X-axis (Left to Right) VC curves

Y-axis (Front to Back) VC curves

참고자료

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 감지되는 진동. 작업장 및 비민감 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)감지 가능한 진동. 사무실 및 비민감 구역에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 감지되지 않는 진동. 대부분의 경우 수면 구역에 적합.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)감지되지 않는 진동. 수술실, 100배율 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학현미경, 마이크로밸런스, 광학밸런스에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

1. VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

2. 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

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케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일01-09-2023
태그
DVIA-P Series
Installation Report
Sungkyunkwan University
JEOL
JBX-8100FX
DVIA-P2200