본문으로 바로가기
설치 보고서
DVIA-P Series
12-18-2023

Samsung Advanced Institute of Technology SAIT Nikon NSR-2205i12D DVIA-P7000 Inspection Report

DVIA-P Series
Inspection Report
Samsung Advanced Institute of Technology
SAIT
Nikon
NSR-2205i12D
DVIA-P7000

개요

DVIA-P7000의 동작 상태 점검 및 진동측정.

장비 IDLE 상태로 점검 및 진동 측정 진행하였음. (일반적으로 10-30Hz 장비 진동)

진동측정 결과 전체적인 성능이 떨어지지만, 2023. 04. 14에 측정한 같은 Stepper 장비 Turn off 상태에서의 Graph와 비교하면 장비 IDLE 진동에 의해 상부진동이 높게 측정된 것임을 추측할 수 있음 [140416R6-1 Report 참고]

시스템 정보

모델: DVIA-P7000

시리얼 넘버: 140416R6-2

Serial Number (SAC-07): 022601

엔지니어

Youngha Lee, Jongwon Park from DAEIL SYSTEMS

점검 날짜

2023년 12월 12일

보고서 작성일

2023년 12월 18일

출장 일정

Date of business trip : 17.12.27~17.12.29

Prepared for

Samsung Advanced Institute of Technology

설치 장소

SAIT Cleanroom Building A, Suwon

장비

Stepper NSR-2205i12D

진동 결과 요약

측정 지점Z축(수직) 1–10 HzZ축(수직) 12.5–80 HzX축(좌우) 1–10 HzX축(좌우) 12.5–80 HzY축(전후) 1–10 HzY축(전후) 12.5–80 Hz
FloorFADResidential Area (ISO)FA
ActiveCOperationTheatre (ISO)DBEC

현장 참고

일반적으로 장비가 IDLE 상태일 때, 10-30Hz 대역 또는 고주파 대역에서 장비진동이 발생하므로 상판 측정 시 해당 진동이 측정될 수 있습니다.

2023년 04월 14일 점검한 제품과 같은 Stepper 장비로 당시 자료와 비교하면 장비 IDLE 진동의 영향으로 상부 진동이 높게 측정되었음을 추측할 수 있습니다. [140416R6-1 Report 참고]

제진대의 정확한 점검 및 튜닝을 위해서는 상부장비의 완전한 Turn off가 필요합니다.

진동 측정

8.1) PULSE 22

Hardware: Bruel & Kjaer Type 3050-A-040

Software: LapShop Application(PULSE Lapshop)

8.2) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

데이터 및 이미지

가속도 센서와 변위 센서가 진동의 변화를 올바르게 센싱하고 정상 작동합니다.

Accelerometer Sensor

Displacement Sensor

Z-axis (Vertical) Passive Transmissibility

Passive Transmissibility Graph에서 DVIA-P의 공진봉이 10Hz 이하지만 비대칭형으로 출력됩니다.

10Hz, 20-80Hz 대역에서 설치 구조, Utility에 의한 공진봉과 장비 IDLE 진동에 의한 공진봉이 있습니다.

Z-axis (Vertical) Feedforward Transmissibility, FFT Vibration (Floor, Active)

Active Transmissibility Graph에서 1-7Hz 대역에서 Transmissibility 0dB 이상으로 설치 구조, Utility에 의한 진동과 상부 장비 IDLE 진동이 의심됩니다.

나머지 대역에서도 상부 장비 IDLE 진동으로 의심되는 공진봉이 다수 존재합니다.

X-axis (Left to Right) Passive Transmissibility

[No Picture]

X-axis (Left to Right) Transmissibility, FFT Vibration (Floor, Active)

Active Transmissibility Graph에서 1-10Hz 대역에서 Transmissibility 0dB 이상의 저조한 성능을 보이는데, 설치 구조, Utility에 의한 영향 혹은 장비 IDLE 상태 진동으로 의심됩니다.

50, 60, 80 Hz에서는 장비 IDLE 상태 진동에 대한 공진봉이 나타납니다.

Y-axis (Front to Back) Passive Transmissibility

Passive Transmissibility Graph에서 DVIA-P의 공진봉이 10Hz 이하지만 뭉툭한 형태로 출력됩니다.

35, 42, 50Hz 대역에서 장비 IDLE 진동에 의한 공진봉이 있습니다.

Y-axis (Front to Back) Transmissibility, FFT Vibration (Floor, Active)

Active Transmissibility Graph에서 1-10Hz 대역에서 Transmissibility 0dB 이상의 저조한 성능을 보이는데, 설치 구조, Utility에 의한 영향 혹은 장비 IDLE 상태 진동으로 의심됩니다.

35 Hz에서는 장비 IDLE 상태 진동에 대한 공진봉이 나타납니다.

Z-axis (Vertical) VC curves

저주파 대역에서는 VC-F 이하로 진동이 적어 비례진동의 특성상 낮은 감쇠율이 출력되지만 그 상승폭이 큽니다. 장비 IDLE진동 혹은 설치 구조/Utility 설치 환경에 의한 영향일 수 있습니다.

위 그래프에서 10-60Hz 대역에서 하판의 진동보다 상판이 진동이 더 크게 출력되는데 Daeil UI Program Transmissibility Graph과 비교하여 확인 시 해당 진동은 상부 장비의IDLE상태 진동으로 추측됩니다.

같은 Stepper장비 Turn off 시 측정한 결과에 따르면 장비 IDLE 상태 진동에 의한 영향일 가능성이 큽니다. [140416R6-1 Report 참고]

Z-axis (Vertical) VC curves (21.12.15 측정)

X-axis (Left to Right) VC curves

저주파 대역에서는 VC-F 이하로 진동이 적어 비례진동의 특성상 낮은 감쇠율이 출력됩니다.

10Hz 대역까지는 성능이 다소 저조하나 이후로는 좋은 성능이 출력됩니다.

같은 Stepper장비 Turn off 시 측정한 결과에 따르면 장비 IDLE 상태 진동에 의한 영향일 가능성이 큽니다. [140416R6-1 Report 참고]

X-axis (Left to Right) VC curves (21.12.15 측정)

Y-axis (Front to Back) VC curves

저주파 대역에서는 VC-F 이하로 진동이 적어 비례진동의 특성상 낮은 감쇠율이 출력됩니다.

10Hz 대역까지는 성능이 다소 저조하나 이후로는 좋은 성능이 출력됩니다.

같은 Stepper장비 Turn off 시 측정한 결과에 따르면 장비 IDLE 상태 진동에 의한 영향일 가능성이 큽니다. [140416R6-1 Report 참고]

Y-axis (Front to Back) VC curves (21.12.15 측정)

Reference

일반 진동 기준

기준 곡선설명진폭
μm/s (µin/s)
세부 크기
μm
Workshop (ISO)뚜렷하게 체감할 수 있는 진동 수준. 워크숍 및 민감하지 않은 구역에 적합.800 (32,000)N/A
Office (ISO)인지 가능한 수준의 진동. 사무 공간 및 기타 민감하지 않은 환경에 적합.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)거의 느껴지지 않는 수준의 진동. 대부분의 수면 공간에 적절.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)진동이 감지되지 않는 수준. 외과 수술실, 100배율 이하 현미경에 적합.100 (4,000)25
VC-A400배율 광학 현미경, 미세 저울, 광학 저울에 적합.50 (2,000)8
VC-B3μm 선폭 검사 및 리소그래피 장비에 적합.25 (1,000)3
VC-C1000배율 광학 현미경, 1μm 리소그래피 장비에 적합.12.5 (500)1 - 3
VC-D전자현미경(SEM/TEM) 등 까다로운 장비에 적합.6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-E나노미터 스케일 E-Beam 리소그래피 등 가장 까다로운 시스템용.3.12 (125)< 0.1
VC-F극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.1.56 (62.5)N/A
VC-G극도로 조용한 연구 공간용. 설계 기준으로는 권장되지 않음.0.78 (31.25)N/A

참고:

- VC-A/B는 8-80 Hz, VC-C~VC-G는 1-80 Hz 범위의 1/3 옥타브 밴드에서 측정.

- 세부 크기는 마이크로일렉트로닉스 제조에서의 선폭 또는 의료 연구에서의 입자 크기를 의미.

이 케이스 스터디 공유하기

케이스 스터디 정보

카테고리
설치 보고서
시리즈DVIA-P Series
작성일12-18-2023
태그
DVIA-P Series
Inspection Report
Samsung Advanced Institute of Technology
SAIT
Nikon
NSR-2205i12D
DVIA-P7000