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Installation Report
DVIA-ULF Series
01-23-2024

KIST Microscope DVIA-UD350 Inspection Report

DVIA-U Series
Inspection Report
KIST
Microscope

Prepared by

Engineer: Jongwon Park

Report written date: 24.01.23

Overview

DVIA-UD350에 안착된 현미경 사용 중 주변 보행 시 화면에 흔들림이 보이는 현상으로 점검 요청 받았습니다.

출장 키트(DSP Board, Geophone sensor, LCD Board) 구비 후 출장 방문했습니다.

DVIA-UD350을 PC와 연결하여UI Program을 통한 점검, 진동 측정 장비를 이용한 점검 진행했습니다.

System Information

Model: DVIA-UD350

Serial Number: 220127R1-2

Engineer

Taewoong Yeo from DAEIL SYSTEMS

Inspection Date

January 19, 2024

Location

한국과학기술연구원 L7223, 서울

Equipment

Microscope

Number of Tuning Trial

1회차 (※ Setup 이후 첫 점검)

Summary of Vibration Results

Measurement PointZ-axis (Vertical) 1-10 HzZ-axis (Vertical) 12.5-80 HzX-axis (Left to Right) 1-10 HzX-axis (Left to Right) 12.5-80 HzY-axis (Front to Back) 1-10 HzY-axis (Front to Back) 12.5-80 Hz
FloorGCGEGE
ActiveGGGFGG

Vibration Measurement

9.1) PULSE 22

Hardware: Bruel & Kjaer Type 3050-A-040

Software: LapShop Application(PULSE Lapshop)

9.2) Measurement Setting

Bandwidth: 0 – 200 Hz

Lines: 801

Analyzer: FFT Spectrum Averaging

Signal Units:

Spectral Units: RMS

9.3) Accelerometer

PCB Accelerometer

Model: 393B05

Conclusion

최초 접수 당시 문제였던 주변 보행 시 고객이 보유하고 있는 측정장비Microscope 화면 흔들림 증상은 제진대 점검을 진행할 시 재현되지 않았습니다.

상부(top plate), 하부(FLOOR)에 진동 측정용 가속도 센서를 부착하여 X, Y, Z축 측정을 통해 VC Curve, Transmissibility curve를 표기하였습니다.

VC Curve, Transmissibility curve 분석 결과, 10Hz 이하의 저주파 대역에서는 X, Y, Z축 모두 VC-G입니다.

10Hz 이상의 고주파 대역에서는 Z축과 Y축은 VC-G, X축은 VC-F 단계로 지반진동이 감쇠되었습니다.

VC-G, VC-F 수준은 high-end FE-SEM에서 요구하는 진동스펙입니다.

Data and Image

11.1 Transmissibility Curve (UI Program)

Z axis (Vertical) Transmissibility

4Hz대역에서 -14.92dB, 10Hz대역에서 -21.91dB로 정상적인 제진 성능을 보입니다.

Z axis (Vertical) VC Curve

PULSE22를 이용하여 센서를 DVIA-UD350 top plate, Floor에 부착하여 측정한 결과 3Hz대역부터 지반 진동을 감쇠하고, 31.5Hz 대역에서 지반 진동이 VC-C이지만,

DVIA-UD350 상부 측정 결과 VC-G까지 감쇠하며 정상적인 진동 감쇠 성능을 보입니다.

X axis (Left to Right) Transmissibility

4Hz대역에서 -15.47dB, 10Hz대역에서 -24.22dB로 정상적인 제진 성능을 보입니다.

X axis (Left to Right) VC Curve

PULSE22를 이용하여 센서를 DVIA-UD350 top plate, Floor에 부착하여 측정한 결과 3Hz대역부터 지반 진동을 감쇠하고, 63Hz 대역에서 지반 진동이 VC-E이지만, DVIA-UD350 상부 측정 결과

VC-G까지 감쇠합니다.

Y axis (Front to Back) Transmissibility

4Hz대역에서 -15.45dB, 10Hz대역에서 -27.72dB로 정상적인 제진 성능으로 보입니다.

Y axis (Front to Back) VC Curve

PULSE22를 이용하여 센서를 DVIA-UD350 top plate, Floor에 부착하여 측정한 결과 3Hz대역부터 지반 진동을 감쇠하고, 6.3Hz - 8Hz 대역에서 역전됩니다. 이 역전 현상은 DVIA-UD350의 진동 감쇠 능력이 출력되기에는 매우 낮은 지반 진동(VC-G)에 의해 발생하는 현상입니다.

63Hz 대역에서 지반 진동이 VC-E이지만, DVIA-UD350 상부 측정 결과 VC-G까지 감쇠합니다.

Transmissibility Curves Curve

PULSE22 진동 측정을 이용하여 DVIA-UD350 top plate와 하부 Floor에 진동 측정용 가속도 센서를 부착시켜0-200Hz대역에서 1Hz당 4개의 Data를 (RMS) 단위로 측정했습니다.

측정한 값을 이용하여 VC-Curve Curve 및 Transmissibility Curve를 표시할 수 있습니다.

Transmissibility(진동 전달률) = 상부 부착 센서의 진동 측정 값 하부 부착 센서의 진동 측정 값

저주파 대역에서 매우 적은 지반 진동(VC-G)으로 인하여 다소 낮은 전달률을 보이지만 1이상의 값(진동 증폭)을 보이지 않습니다.

설치 사진

Reference

Criterion CurveDescriptionAmplitude
μm/s (µin/s)
Detail Size
μm
Workshop (ISO)Distinctly perceptible vibration. Appropriate to workshops and non-sensitive areas.800 (32,000)N/A
Office (ISO)Perceptible vibration. Appropriate to offices and non-sensitive areas.400 (16,000)N/A
Residential Area (ISO)Barely perceptible vibration. Appropriate to sleep areas in most instances.200 (8,000)75
Operating Theatre (ISO)Vibration not perceptible. Suitable for surgical suites, microscopes to 100x.100 (4,000)25
VC-AAdequate for optical microscopes to 400x, microbalances, optical balances.50 (2,000)8
VC-BAppropriate for inspection and lithography equipment to 3μm line widths.25 (1,000)3
VC-CAppropriate for optical microscopes to 1000x, lithography equipment to 1μm.12.5 (500)1 - 3
VC-DSuitable for demanding equipment including electron microscopes (SEMs/TEMs).6.25 (250)0.1 - 0.3
VC-EFor the most demanding systems including E-Beam lithography at nanometer scales.3.12 (125)< 0.1
VC-FFor extremely quiet research spaces. Not recommended as design criterion.1.56 (62.5)N/A
VC-GFor extremely quiet research spaces. Not recommended as design criterion.0.78 (31.25)N/A

Notes:

- As measured in one-third octave bands over 8-80 Hz (VC-A/B) or 1-80 Hz (VC-C through VC-G).

- Detail size refers to width in microelectronics fabrication or particle size in medical research.

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Case Study Information

Category
Installation Report
SeriesDVIA-ULF Series
Date01-23-2024
Tags
DVIA-U Series
Inspection Report
KIST
Microscope